Spin-Wave Resonance in Chemically Deposited Fe-Ni Films: Measuring the Spin-Wave Stiffness and Surface Anisotropy Constant


Цитировать

Полный текст

Открытый доступ Открытый доступ
Доступ закрыт Доступ предоставлен
Доступ закрыт Только для подписчиков

Аннотация

Single-layer FexNi1 - x thin magnetic films have been investigated by the spin-wave resonance technique in the entire concentration range. The surface anisotropy and exchange stiffness constants for the films with a Ni content from 30 to 80 at % have been measured from the experimental standing spin wave spectra. The surface exchange spin wave penetration depth δC = 20–30 nm has been determined from the dependences of the surface anisotropy and exchange coupling constants on the Fe20Ni80 film thickness in the range of 250–400 nm.

Об авторах

I. Vazhenina

Kirensky Institute of Physics

Автор, ответственный за переписку.
Email: irina-vazhenina@mail.ru
Россия, Krasnoyarsk, 660036

R. Iskhakov

Kirensky Institute of Physics

Email: irina-vazhenina@mail.ru
Россия, Krasnoyarsk, 660036

L. Chekanova

Kirensky Institute of Physics

Email: irina-vazhenina@mail.ru
Россия, Krasnoyarsk, 660036

Дополнительные файлы

Доп. файлы
Действие
1. JATS XML

© Pleiades Publishing, Ltd., 2018

Согласие на обработку персональных данных

 

Используя сайт https://journals.rcsi.science, я (далее – «Пользователь» или «Субъект персональных данных») даю согласие на обработку персональных данных на этом сайте (текст Согласия) и на обработку персональных данных с помощью сервиса «Яндекс.Метрика» (текст Согласия).