Spin-Wave Resonance in Chemically Deposited Fe-Ni Films: Measuring the Spin-Wave Stiffness and Surface Anisotropy Constant


Дәйексөз келтіру

Толық мәтін

Ашық рұқсат Ашық рұқсат
Рұқсат жабық Рұқсат берілді
Рұқсат жабық Тек жазылушылар үшін

Аннотация

Single-layer FexNi1 - x thin magnetic films have been investigated by the spin-wave resonance technique in the entire concentration range. The surface anisotropy and exchange stiffness constants for the films with a Ni content from 30 to 80 at % have been measured from the experimental standing spin wave spectra. The surface exchange spin wave penetration depth δC = 20–30 nm has been determined from the dependences of the surface anisotropy and exchange coupling constants on the Fe20Ni80 film thickness in the range of 250–400 nm.

Авторлар туралы

I. Vazhenina

Kirensky Institute of Physics

Хат алмасуға жауапты Автор.
Email: irina-vazhenina@mail.ru
Ресей, Krasnoyarsk, 660036

R. Iskhakov

Kirensky Institute of Physics

Email: irina-vazhenina@mail.ru
Ресей, Krasnoyarsk, 660036

L. Chekanova

Kirensky Institute of Physics

Email: irina-vazhenina@mail.ru
Ресей, Krasnoyarsk, 660036

Қосымша файлдар

Қосымша файлдар
Әрекет
1. JATS XML

© Pleiades Publishing, Ltd., 2018