Мақаланы E-mail арқылы жіберу Setup for Measuring the Thermoelectric Properties of Ultrathin Wires
- Авторлар: Uryupin O.N.1, Shabaldin A.A.1
-
Мекемелер:
- Ioffe Institute
- Шығарылым: Том 53, № 5 (2019)
- Беттер: 695-698
- Бөлім: XVI International Conference “thermoelectrics and Their Applications–2018” (Iscta 2018,) St. Petersburg, October 8–12, 2018
- URL: https://ogarev-online.ru/1063-7826/article/view/206193
- DOI: https://doi.org/10.1134/S1063782619050270
- ID: 206193
Дәйексөз келтіру
Ашық рұқсат
Рұқсат берілді
Тек жазылушылар үшін
Аннотация
An experimental setup is developed to measure the thermoelectric properties of semiconductor nanowires with diameters of up to 5 nm in dielectric matrices. This setup makes it possible to measure the electrical resistance and thermoelectric power of nanostructured samples in the temperature range of 77–400 K.
Авторлар туралы
O. Uryupin
Ioffe Institute
Хат алмасуға жауапты Автор.
Email: O.uryupin@mail.ioffe.ru
Ресей, St. Petersburg, 194021
A. Shabaldin
Ioffe Institute
Email: O.uryupin@mail.ioffe.ru
Ресей, St. Petersburg, 194021
Қосымша файлдар
