Search

Issue
Title
Authors
Formation of Nanostructures on the Surface of Aluminium—Silicon Films by Bombardment with Low-Energy Argon Ions of Inductive RF Discharge Plasma
Bachurin V.I., Amirov I.I., Lobzov K.N., Simakin S.G., Smirnova M.A.
Modification and Sputtering of Inhomogeneous Multilayer Oxidized Metal Films by Low-Current Argon Ion Beams
Lukiantsev D.S., Lubenchenko A.V., Ivanov D.A., Pavolotsky A.B., Lubenchenko O.I., Ivanova I.V., Pavlov O.N.
Low-Period Multilayered Ti/NixMoy Films with Variable Quasi-Homogeneous Structure for Neutron Reflectometry
Avdeev M.V., Gapon I.V., Merkel D., Yerdauletov M., Djanseitov D.M., Tropin T.V.
Peculiarities of Physical Properties of Film Structures Based on Tungsten Nanofilms with Various Phase Composition
Prokaznikov A.V., Selyukov R.V., Paporkov V.A.
Investigation of Plasticity in Memristive Structures Based on Epitaxial Films Nd2–xCexCuO4–y
Tulina N.A., Rossolenko A.N., Shmytko I.M., Borisenko I.Y., Ivanov A.A.
Resistive Plate Chamber as Thermal Neutron Detector Based on B-10 Converter
Petrova M.O., Bogdzel’ A.A., Bodnarchuk V.I., Daulbaev O., Milkov V.M., Kurilkin .K., Bulatov K.V., Dmitriev A., Babkin V.A.
Optimization of neutron reflectometry experiment on thin films of hybrid perovskites for photovoltaics
Avdeev M.V., Tropin Т.V., Sadilov V.V.
Structure, transport and magnetic properties of ultrathin and thin FeSi films on Si(111)
Galkin N.G., Chernev I.M., Subbotin E.Y., Goroshko O.A., Dotsenko S.A., Maslov A.M., Galkin K.N., Kropachev O.V., Goroshko D.L., Samardak A.Y., Gerasimenko A.V., Argunov E.V.
Optical Properties and Structure of In2O3 Films Deposited on Al2O3 (012) Substrates by dc-Magnetron Sputtering
Tikhii A.A., Nikolaenko Y.M., Svyrydova K.A., Zhikharev I.V.
Structure and magnetic properties of multilayer nanosystems based on thin films of cobalt and chromium-group metals deposited by magnetron method
Prokaznikov А.V., Paporkov V.А., Selyukov R.V., Vasilev S.V., Savenko О.V.
Quantum Size Effect of Bloch Wave Functions of Ultra-High Energy Electrons in a Thin Single-Crystal Film
Shkornyakov S.M.
Studying the Influence of Polymer-Colloid Drilling Fluid on the Pore Space of Rocks
Kuzmin V.A., Skibitskaya N.A.
Formation of ultra-smooth highly orientated ZnO films on amorphous surface (SiO2/Si) by magnetron sputtering
Ismailov А.М., Guidalaeva Т.А., Muslimov А.E., Grigoriev Y.V., Kanevsky V.М.
The Potential of Liquid Glass Using for Smoothing the Surface of Optical Elements
Mikhaylenko М.S., Zorina М.V., Petrova D.V., Pestov А.Е., Strulya I.L., Chkhalo N.I.
Influence of Low-Energy Ion Bombardment on the Texture and Microstructure of Pt Films
Selyukov R.V., Naumov V.V., Izyumov M.O., Vasilev S.V., Mazaletskiy L.A.
Synthesis of thin films of magnesium aluminate spinel by Al and Mg anodic evaporation
Gavrilov N.V., Emlin D.R., Medvedev А.I., Skorynina P.А.
Influence of Aluminium on the Structure and Electrical Properties of Amorphous Diamond-Like Silicon-Carbon Films
Popov A.I., Presnyakov M.Y., Domashevskaya E.P., Terekhov V.A., Semenov-Shefov M.A., Afanas’ev V.P., Chukanova T.S., Zezin D.A., Yemets V.M., Barinov A.D., Shapetina M.A.
Self-Forming Silicon Nitride Nanomask and Its Applications
Smirnov V.K., Kibalov D.S., Lepshin P.A., Zhuravlev I.V., Smirnova G.F.
Temperature dependence of structural parameters of thin films of polystyrene—fullerene С6070 nanocomposite according to neutron reflectometry data
Tropin T.V., Avdeev M.V., Aksenov V.L.
Effect of Annealing Conditions on the Formation of a Nanocrystalline Phase in TiOx Films
Nezhdanov A.V., Baratta M., De Filpo G., Markelov A.S., Andrianov A.I., Pavlov D.A., Ershov A.V., Skrylev A.A., Vinogradova L.M., Shestakov D.V., Zhukov A.O., Mashin A.I.
Controlled Nanostructuring of Thin Films by Oblique Deposition
Trushin O.S., Fattakhov I.S., Chebokhin M.M., Popov A.A., Mazaletsky L.A.
Determination of the Ion—Solid Interaction Potential from the Experiment and Its Influence on the Profiles of Implanted Particles
Zinoviev A.N., Babenko P.Y., Mikhailov V.S., Tensin D.S.
Field Frequency Variation during Plasma-Chemical Deposition of Silicon-Carbon Films as a Method for Their Structural Modification
Popov A.I., Barinov A.D., Yemets V.M., Presnyakov M.Y., Chukanova T.S.
1 - 23 of 23 Items

Search tips:

  • Search terms are case-insensitive
  • Common words are ignored
  • By default only articles containing all terms in the query are returned (i.e., AND is implied)
  • Combine multiple words with OR to find articles containing either term; e.g., education OR research
  • Use parentheses to create more complex queries; e.g., archive ((journal OR conference) NOT theses)
  • Search for an exact phrase by putting it in quotes; e.g., "open access publishing"
  • Exclude a word by prefixing it with - or NOT; e.g. online -politics or online NOT politics
  • Use * in a term as a wildcard to match any sequence of characters; e.g., soci* morality would match documents containing "sociological" or "societal"

Согласие на обработку персональных данных с помощью сервиса «Яндекс.Метрика»

1. Я (далее – «Пользователь» или «Субъект персональных данных»), осуществляя использование сайта https://journals.rcsi.science/ (далее – «Сайт»), подтверждая свою полную дееспособность даю согласие на обработку персональных данных с использованием средств автоматизации Оператору - федеральному государственному бюджетному учреждению «Российский центр научной информации» (РЦНИ), далее – «Оператор», расположенному по адресу: 119991, г. Москва, Ленинский просп., д.32А, со следующими условиями.

2. Категории обрабатываемых данных: файлы «cookies» (куки-файлы). Файлы «cookie» – это небольшой текстовый файл, который веб-сервер может хранить в браузере Пользователя. Данные файлы веб-сервер загружает на устройство Пользователя при посещении им Сайта. При каждом следующем посещении Пользователем Сайта «cookie» файлы отправляются на Сайт Оператора. Данные файлы позволяют Сайту распознавать устройство Пользователя. Содержимое такого файла может как относиться, так и не относиться к персональным данным, в зависимости от того, содержит ли такой файл персональные данные или содержит обезличенные технические данные.

3. Цель обработки персональных данных: анализ пользовательской активности с помощью сервиса «Яндекс.Метрика».

4. Категории субъектов персональных данных: все Пользователи Сайта, которые дали согласие на обработку файлов «cookie».

5. Способы обработки: сбор, запись, систематизация, накопление, хранение, уточнение (обновление, изменение), извлечение, использование, передача (доступ, предоставление), блокирование, удаление, уничтожение персональных данных.

6. Срок обработки и хранения: до получения от Субъекта персональных данных требования о прекращении обработки/отзыва согласия.

7. Способ отзыва: заявление об отзыве в письменном виде путём его направления на адрес электронной почты Оператора: info@rcsi.science или путем письменного обращения по юридическому адресу: 119991, г. Москва, Ленинский просп., д.32А

8. Субъект персональных данных вправе запретить своему оборудованию прием этих данных или ограничить прием этих данных. При отказе от получения таких данных или при ограничении приема данных некоторые функции Сайта могут работать некорректно. Субъект персональных данных обязуется сам настроить свое оборудование таким способом, чтобы оно обеспечивало адекватный его желаниям режим работы и уровень защиты данных файлов «cookie», Оператор не предоставляет технологических и правовых консультаций на темы подобного характера.

9. Порядок уничтожения персональных данных при достижении цели их обработки или при наступлении иных законных оснований определяется Оператором в соответствии с законодательством Российской Федерации.

10. Я согласен/согласна квалифицировать в качестве своей простой электронной подписи под настоящим Согласием и под Политикой обработки персональных данных выполнение мною следующего действия на сайте: https://journals.rcsi.science/ нажатие мною на интерфейсе с текстом: «Сайт использует сервис «Яндекс.Метрика» (который использует файлы «cookie») на элемент с текстом «Принять и продолжить».