Test pulse generator for diagnostics of power semiconductors in low conductivity state
- 作者: Bespalov N.N., Ilyin M.V., Kapitonov S.S., Matyushkin V.V.
- 期: 卷 2, 编号 3 (2014)
- 栏目: Статьи
- ##submission.dateSubmitted##: 03.05.2025
- ##submission.dateAccepted##: 03.05.2025
- URL: https://ogarev-online.ru/2311-2468/article/view/290417
- ID: 290417
如何引用文章
全文:
详细
The article considers the generator of test voltage pulses. The generator has been designed for devices used to test power semiconductors in a low conductivity state.
作者简介
N. Bespalov
编辑信件的主要联系方式.
Email: ogarevonline@yandex.ru
俄罗斯联邦
M. Ilyin
Email: ogarevonline@yandex.ru
俄罗斯联邦
S. Kapitonov
Email: ogarevonline@yandex.ru
俄罗斯联邦
V. Matyushkin
Email: ogarevonline@yandex.ru
俄罗斯联邦
参考
- Беспалов Н. Н., Ильин М. В., Капитонов С. С., Лебедев С. В. Моделирование процессов в силовых полупроводниковых приборах при их групповом последовательном включении в среде Multisim // Электроника и электрооборудование транспорта. – 2012. – Вып. № 4. – С. 30–35.
- ГОСТ 24461–80 (СТ. СЭВ 1656–79). Приборы полупроводниковые силовые. Методы измерений и испытаний. – М. : Издательство стандартов, 1981. – 56 с.
补充文件
