Test pulse generator for diagnostics of power semiconductors in low conductivity state
- Authors: Bespalov N.N., Ilyin M.V., Kapitonov S.S., Matyushkin V.V.
- Issue: Vol 2, No 3 (2014)
- Section: Статьи
- Submitted: 03.05.2025
- Accepted: 03.05.2025
- URL: https://ogarev-online.ru/2311-2468/article/view/290417
- ID: 290417
Cite item
Full Text
Abstract
The article considers the generator of test voltage pulses. The generator has been designed for devices used to test power semiconductors in a low conductivity state.
About the authors
N. N. Bespalov
Author for correspondence.
Email: ogarevonline@yandex.ru
Russian Federation
M. V. Ilyin
Email: ogarevonline@yandex.ru
Russian Federation
S. S. Kapitonov
Email: ogarevonline@yandex.ru
Russian Federation
V. V. Matyushkin
Email: ogarevonline@yandex.ru
Russian Federation
References
- Беспалов Н. Н., Ильин М. В., Капитонов С. С., Лебедев С. В. Моделирование процессов в силовых полупроводниковых приборах при их групповом последовательном включении в среде Multisim // Электроника и электрооборудование транспорта. – 2012. – Вып. № 4. – С. 30–35.
- ГОСТ 24461–80 (СТ. СЭВ 1656–79). Приборы полупроводниковые силовые. Методы измерений и испытаний. – М. : Издательство стандартов, 1981. – 56 с.
Supplementary files
