Single electron transistor: Energy-level broadening effect and thermionic contribution


Цитировать

Полный текст

Открытый доступ Открытый доступ
Доступ закрыт Доступ предоставлен
Доступ закрыт Только для подписчиков

Аннотация

In this paper, a theoretical study of single electron transistor (SET) based on silicon quantum dot (Si–QD) has been studied. We have used a novel approach based on the orthodox theory. We studied the energy–level broadening effect on the performance of the SET, where the tunnel resistance depends on the discrete energy. We have investigated the IV curves, taking into account the effects of the energy-level broadening, temperature and bias voltage. The presence of Coulomb blockade phenomena and its role to obtain the negative differential resistance (NDR) have been also outlined.

Об авторах

A. Nasri

University of Monastir, Microelectronics and Instrumentation laboratory

Автор, ответственный за переписку.
Email: abdelgafar@hotmail.fr
Тунис, Av de l’environnement, Monastir, 5019

A. Boubaker

University of Monastir, Microelectronics and Instrumentation laboratory

Email: abdelgafar@hotmail.fr
Тунис, Av de l’environnement, Monastir, 5019

W. Khaldi

CNRS, Centrale Lille, ISEN

Email: abdelgafar@hotmail.fr
Франция, Lille, 59000

B. Hafsi

CNRS, Centrale Lille, ISEN

Email: abdelgafar@hotmail.fr
Франция, Lille, 59000

A. Kalboussi

University of Monastir, Microelectronics and Instrumentation laboratory

Email: abdelgafar@hotmail.fr
Тунис, Av de l’environnement, Monastir, 5019

Дополнительные файлы

Доп. файлы
Действие
1. JATS XML

© Pleiades Publishing, Ltd., 2017

Согласие на обработку персональных данных

 

Используя сайт https://journals.rcsi.science, я (далее – «Пользователь» или «Субъект персональных данных») даю согласие на обработку персональных данных на этом сайте (текст Согласия) и на обработку персональных данных с помощью сервиса «Яндекс.Метрика» (текст Согласия).