Electrical parameters of polycrystalline Sm1–xEuxS rare-earth semiconductors


Цитировать

Полный текст

Открытый доступ Открытый доступ
Доступ закрыт Доступ предоставлен
Доступ закрыт Только для подписчиков

Аннотация

The electrical parameters of polycrystalline Sm1–xEuxS compounds are studied. The conductivity, concentration of free electrons, their mobility, and the conductivity activation energy are measured as functions of the quantity x. The structural parameters of the compounds are determined. A heterostructure is fabricated with x in the range from 0 to 0.3, and the electrical voltage generated by the structure, when heated to a temperature of T = 450 K, due to the thermovoltaic effect is measured. This voltage is found to be 55 mV. A method for measuring the thermally induced voltage is described. The method provides a means for separating the thermovoltaic effect from the Seebeck effect.

Об авторах

V. Kaminskii

Ioffe Physical–Technical Institute

Автор, ответственный за переписку.
Email: vladimir.kaminski@mail.ioffe.ru
Россия, St. Petersburg, 194021

M. Kazanin

Ioffe Physical–Technical Institute

Email: vladimir.kaminski@mail.ioffe.ru
Россия, St. Petersburg, 194021

M. Romanova

Ioffe Physical–Technical Institute

Email: vladimir.kaminski@mail.ioffe.ru
Россия, St. Petersburg, 194021

G. Kamenskaya

Ioffe Physical–Technical Institute

Email: vladimir.kaminski@mail.ioffe.ru
Россия, St. Petersburg, 194021

N. Sharenkova

Ioffe Physical–Technical Institute

Email: vladimir.kaminski@mail.ioffe.ru
Россия, St. Petersburg, 194021

Дополнительные файлы

Доп. файлы
Действие
1. JATS XML

© Pleiades Publishing, Ltd., 2016

Согласие на обработку персональных данных

 

Используя сайт https://journals.rcsi.science, я (далее – «Пользователь» или «Субъект персональных данных») даю согласие на обработку персональных данных на этом сайте (текст Согласия) и на обработку персональных данных с помощью сервиса «Яндекс.Метрика» (текст Согласия).