Electron emission from Cs/GaAs and GaAs(Cs, О) with positive and negative electron affinity


Дәйексөз келтіру

Толық мәтін

Ашық рұқсат Ашық рұқсат
Рұқсат жабық Рұқсат берілді
Рұқсат жабық Тек жазылушылар үшін

Аннотация

The evolution of probabilities of escape of hot and thermalized electrons from GaAs(001) with adsorbed cesium and oxygen layers to vacuum at the transition from positive to negative effective electron affinity is studied by the photoemission quantum yield spectroscopy. A minimum of the probability of escape of thermalized electrons near zero electron affinity is revealed and explained.

Авторлар туралы

A. Zhuravlev

Rzhanov Institute of Semiconductor Physics, Siberian Branch; Novosibirsk State University

Email: alper@isp.nsc.ru
Ресей, Novosibirsk, 630090; Novosibirsk, 630090

V. Khoroshilov

Rzhanov Institute of Semiconductor Physics, Siberian Branch; Novosibirsk State University

Email: alper@isp.nsc.ru
Ресей, Novosibirsk, 630090; Novosibirsk, 630090

V. Alperovich

Rzhanov Institute of Semiconductor Physics, Siberian Branch; Novosibirsk State University

Хат алмасуға жауапты Автор.
Email: alper@isp.nsc.ru
Ресей, Novosibirsk, 630090; Novosibirsk, 630090

Қосымша файлдар

Қосымша файлдар
Әрекет
1. JATS XML

© Pleiades Publishing, Inc., 2017