Прогнозирование уровня дефектов производства печатных плат на базе их расчетной надежности

Обложка

Цитировать

Полный текст

Аннотация

Актуальность и цели. Повышение надежности печатных плат связано со снижением уровня их дефектов в процессе производства. Задача прогнозирования уровня дефектов особенно актуальна в ситуации, когда предприятие входит в так называемую точку перегиба, где существующий технологический уровень дает сбои в обеспечении приемлемых показателей дефектов для нарастающего объема производства продукции новой сложности (например, при смене специализации контрактного производства печатных плат с 5 класса точности на 6 класс точности и выше). Заблаговременное определение уровня будущих дефектов позволяет разрабатывать и внедрять мероприятия по снижению издержек производства. Цель исследования – разработать систему уравнений для прогнозирования дефектов производства печатных плат. Материалы и методы. Для решения поставленной задачи используются метод математического моделирования и методы теории надежности. Результаты. Разработана система уравнений для расчета уровня дефектов производства печатных плат, а также спрогнозировано критичное значение данного производства многослойной печатной платы. Выводы. Проведена апробация формулы расчета. Результаты апробации демонстрируются на примере сложной многослойной печатной платы класса точности 5+ и многослойной печатной платы 5-го класса точности. Сделан вывод о возможности проведения расширенной апробации на предприятии – изготовителе печатных плат.

Об авторах

Алексей Алексеевич Трошин

АО «ПО «Электроприбор»

Автор, ответственный за переписку.
Email: mail@electropribor-penza.ru

генеральный директор

(Россия, г. Пенза, пр-кт Победы, 69)

Ирина Владимировна Балахонова

Пензенский государственный университет

Email: i.v.balachonova@mail.ru

кандидат экономических наук, доцент, доцент кафедры приборостроения

(Россия, г. Пенза, ул. Красная, 40)

Список литературы

  1. Вернер В., Кузнецов Е., Сауров А. Закону Мура 50 лет: завершение или изменение? // Наноиндустрия. 2015. № 6 (60). С. 50‒62.
  2. Dorsch J. The End of Scaling? URL: http://electroiq/com/mysemicondaily/2014/07/09/
  3. Martin B. Are We At an Inflection Point with Silicon Scaling and Homogeneous ICs? URL: http://semimd.com/blog/2014/10/15/
  4. Астахов В. П. Основы надежности электронно-оптических приборов. М. : МГУПИ, 2007. 62 с.
  5. Гормаков А. Н., Воронина Н. А. Конструирование и технология электронных устройств приборов. Печатные платы : учеб. пособие. Томск : Изд-во ТПУ, 2006. 164 с.
  6. Чиминев А. Печатные платы – ключевой компонент, определяющий надежность конечного продукта // Электроника: Наука, Технология, Бизнес. 2020. № 6. С. 42‒46.
  7. Трошин А. А., Балахонова И. В. Совершенствование математической модели прогнозирования отказов печатных плат // Известия высших учебных заведений. Поволжский регион. Технические науки. 2024. № 4. С. 19–29.
  8. Шнейдмиллер В. Р. Дефекты и анализ печатных плат // Актуальные проблемы радиоэлектроники и телекоммуникаций : материалы Всерос. науч.-техн. конф. (г. Самара, 15–17 мая 2018 г.) / под ред. А. И. Данилина. Самара : Офорт, 2018. С. 176–177.

Дополнительные файлы

Доп. файлы
Действие
1. JATS XML


Creative Commons License
Эта статья доступна по лицензии Creative Commons Attribution 4.0 International License.

Согласие на обработку персональных данных

 

Используя сайт https://journals.rcsi.science, я (далее – «Пользователь» или «Субъект персональных данных») даю согласие на обработку персональных данных на этом сайте (текст Согласия) и на обработку персональных данных с помощью сервиса «Яндекс.Метрика» (текст Согласия).