Theoretical Analysis of the Effect of dU/dt in 4H–SiC Thyristor Structures


Цитировать

Полный текст

Открытый доступ Открытый доступ
Доступ закрыт Доступ предоставлен
Доступ закрыт Только для подписчиков

Аннотация

On the basis of numerical simulation, specificities of the effect of dU/dt in 4H–SiC thyristor structures, related to realization of the recently discovered triggering α-mechanism are analyzed. It is shown that one of the manifestations of this mechanism is a catastrophic reduction in the voltage blocked by a thyristor with an increase in temperature of the structure. Practical ways of eliminating this effect are discussed.

Об авторах

S. Yurkov

Moscow Power Engineering Institute

Автор, ответственный за переписку.
Email: yurkov.sn@mail.ru
Россия, Moscow, 111250

T. Mnatsakanov

Moscow Power Engineering Institute

Email: yurkov.sn@mail.ru
Россия, Moscow, 111250

A. Tandoev

Moscow Power Engineering Institute

Email: yurkov.sn@mail.ru
Россия, Moscow, 111250

Дополнительные файлы

Доп. файлы
Действие
1. JATS XML

© Pleiades Publishing, Ltd., 2018

Согласие на обработку персональных данных

 

Используя сайт https://journals.rcsi.science, я (далее – «Пользователь» или «Субъект персональных данных») даю согласие на обработку персональных данных на этом сайте (текст Согласия) и на обработку персональных данных с помощью сервиса «Яндекс.Метрика» (текст Согласия).