Informaçao sobre o Autor
Prislopski, S. Ya.
| Edição | Seção | Título | Arquivo |
| Volume 52, Nº 16 (2018) | 26th INTERNATIONAL SYMPOSIUM “NANOSTRUCTURES: PHYSICS AND TECHNOLOGY”. NANOSTRUCTURE CHARACTERIZATION | Polarized Retroreflection from Nanoporous III–V Semiconductors |