Informaçao sobre o Autor
Abolmasov, S. N.
| Edição | Seção | Título | Arquivo |
| Volume 53, Nº 8 (2019) | Physics of Semiconductor Devices | Sensing Amorphous/Crystalline Silicon Surface Passivation by Attenuated Total Reflection Infrared Spectroscopy of Amorphous Silicon on Glass |