Автор туралы ақпарат

Tiginyanu, I. M.

Шығарылым Бөлім Атауы Файл
Том 52, № 16 (2018) 26th INTERNATIONAL SYMPOSIUM “NANOSTRUCTURES: PHYSICS AND TECHNOLOGY”. NANOSTRUCTURE CHARACTERIZATION Polarized Retroreflection from Nanoporous III–V Semiconductors