Пользователь

Имя пользователя
Пароль
Запомнить меня
Забыли пароль?	Регистрация

Инструменты статьи

Ключевые слова атомно-силовая микроскопия компьютерное моделирование магнетронное распыление метод Монте-Карло микроструктура морфология поверхности наночастицы облучение оксид цинка поверхность растровая электронная микроскопия рентгеновская дифракция рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия рентгеноструктурный анализ рентгенофазовый анализ синхротронное излучение структура тонкие пленки фазовый состав численное моделирование электронная микроскопия

Поиск

Поиск

Область поиска Все Авторы Название Резюме Термины Полный текст

Листать

• выпуски
• По автору
• по заглавиям
• другие журналы

Метрики

Подписка Войти в систему, чтобы проверить подписку

Уведомления

• Посмотреть
• Подписаться

Текущий выпуск

№ 8 (2025)