On Diffraction Phenomena in Sensors of Surface Waves


Цитировать

Полный текст

Открытый доступ Открытый доступ
Доступ закрыт Доступ предоставлен
Доступ закрыт Только для подписчиков

Аннотация

The diffraction phenomena associated with the limited aperture size of an incident wave are considered on the basis of a theoretical method for studying the reflection of a plane electromagnetic wave from a plane-layered multifilm structure with homogeneous films. The proposed theory is applied to the analysis of the sensitivity of sensors based on surface waves.

Об авторах

A. Petrin

Joint Institute of High Temperatures

Автор, ответственный за переписку.
Email: a_petrin@mail.ru
Россия, Moscow, 125412

Дополнительные файлы

Доп. файлы
Действие
1. JATS XML

© Pleiades Publishing, Ltd., 2018

Согласие на обработку персональных данных

 

Используя сайт https://journals.rcsi.science, я (далее – «Пользователь» или «Субъект персональных данных») даю согласие на обработку персональных данных на этом сайте (текст Согласия) и на обработку персональных данных с помощью сервиса «Яндекс.Метрика» (текст Согласия).