Intracavity Waveguide Spectroscopy of Thin Films


Цитировать

Полный текст

Открытый доступ Открытый доступ
Доступ закрыт Доступ предоставлен
Доступ закрыт Только для подписчиков

Аннотация

The method of intracavity waveguide spectroscopy for measuring low optical losses in thin films is proposed. The method also allows one to distinguish transverse and longitudinal modes in low-gain lasers without introducing considerable losses into the cavity.

Об авторах

A. Shulga

Belarusian–Russian University

Email: avkh@mogilev.by
Белоруссия, Mogilev, 212000

A. Khomchenko

Belarusian–Russian University

Автор, ответственный за переписку.
Email: avkh@mogilev.by
Белоруссия, Mogilev, 212000

I. Shilova

Belarusian–Russian University

Email: avkh@mogilev.by
Белоруссия, Mogilev, 212000

Дополнительные файлы

Доп. файлы
Действие
1. JATS XML

© Pleiades Publishing, Ltd., 2018

Согласие на обработку персональных данных

 

Используя сайт https://journals.rcsi.science, я (далее – «Пользователь» или «Субъект персональных данных») даю согласие на обработку персональных данных на этом сайте (текст Согласия) и на обработку персональных данных с помощью сервиса «Яндекс.Метрика» (текст Согласия).