IR and THz Bolometric Detectors with Absorbers Characterized by Frequency Dispersion of Conductivity


Дәйексөз келтіру

Толық мәтін

Ашық рұқсат Ашық рұқсат
Рұқсат жабық Рұқсат берілді
Рұқсат жабық Тек жазылушылар үшін

Аннотация

Application of thin metal absorbers allows one to significantly increase the absorption coefficient and sensitivity of matrix THz microbolometric detectors. It is shown that absorbers characterized by frequency dispersion of conductivity, in contrast to conventional nondispersive absorbers, can provide almost total IR absorption retaining high sensitivity in the THz range.

Авторлар туралы

M. Dem’yanenko

Rzhanov Institute of Semiconductor Physics, Siberian Branch, Russian Academy of Sciences

Хат алмасуға жауапты Автор.
Email: demyanenko@isp.nsc.ru
Ресей, Novosibirsk, 630090

Қосымша файлдар

Қосымша файлдар
Әрекет
1. JATS XML

© Pleiades Publishing, Ltd., 2019