On Influence of the Parameters of a Layered Target and Electron Beam on Diffracted Transition and Parametric X-Ray

S. V. Blazhevich; Блажевич С. В.; O. Yu. Shevchuk; Шевчук О. Ю.; A. V. Noskov; Носков А. В.; A. E. Fedoseev; Федосеев А. Э.

doi:10.31857/S1028096023060079

On Influence of the Parameters of a Layered Target and Electron Beam on Diffracted Transition and Parametric X-Ray

作者: Blazhevich S.V.¹, Shevchuk O.Y.¹, Noskov A.V.¹^,2, Fedoseev A.E.¹
隶属关系:
1. Belgorod State National Research University
2. Belgorod State Technological University named after V.G. Shukhov
期: 编号 9 (2023)
页面: 82-88
栏目: Articles
URL: https://ogarev-online.ru/1028-0960/article/view/137816
DOI: https://doi.org/10.31857/S1028096023060079
EDN: https://elibrary.ru/DMPSXG
ID: 137816

如何引用文章

全文:

开放存取

##reader.subscriptionAccessGranted##
受限制的访问

订阅存取

详细
作者简介
参考
补充文件
统计

详细

The paper considers parametric X-ray radiation (PXR) and diffracted transition radiation (DTR) of a beam of relativistic electrons crossing a target with a periodic layered structure in the Bragg scattering geometry. The general case of asymmetric electron reflection relative to the target surface is considered, that is, when the target layers occupy a place at right angles to its surface. Within the framework of the two-wave approximation of the dynamic theory of diffraction expressions are obtained that describe the angular densities of PXR, DTR and their interference. Computational calculations of the angular densities are carried out for various values of the target parameters and a variety of quantities. The density-to-flow ratio depends on the density and on the thickness-to-thickness ratio of the periodic structure. At a large electron value, the angular dependence of the DTR on the consumed mass increases.

关键词

electron beam divergence, diffracted transition radiation, parametric X-ray radiation, relativistic electron.

参考

Nasonov N.N., Kaplin V.V., Uglov S.R., Piestrup M.A. and Gary C.K. // Phys. Rev. E. 2003. V. 68. P. 3604.
Гарибян Г.М., Ши Я. // ЖЭТФ. 1971. Т. 61. С. 930.
Барышевский В.Г., Феранчук И.Д. // ЖЭТФ. 1971. Т. 61. С. 944.
Baryshevsky V.G. // Nucl. Instrum. Methods Phys. Res. A. 1997. V. 122. P. 13.
Artru X., Rullhusen P. // Nucl. Instrum. Methods Phys. Res. B. 1998. V. 145. P. 1.
Nasonov N.N. // Phys. Lett. A. 1998. V. 246. P. 148.
Kaplin V.V., Uglov S.R., Zabaev V.N., Piestrup M.A., Gary C.K., Nasonov N.N., Fuller M.K. // Appl. Phys. Lett. 2000. V. 76. P. 3647. https://doi.org/10.1063/1.126735
Блажевич С.В., Колосова И.В., Носков А.В. // ЖЭТФ. 2012. V. 141. P. 627.
Блажевич С.В., Гладких Ю.П., Носков А.В. // Поверхность. Рентген., синхротр. и нейтрон. исслед. 2013. № 4. С. 99. https://doi.org/10.7868/S0207352813030086
Блажевич С.В., Носков А.В. // ЖЭТФ. 2017. Т. 152. С. 267. https://doi.org/10.7868/S0044451017080053
Блажевич С.В, Москаленко Н.И., Коськова Т.В., Носков А.В., Ткаченко Е.А. // Поверхность. Рентген., синхротр. и нейтрон. исслед. 2016. № 12. С. 72.
Blazhevich S., Noskov A. // Nucl. Instrum. Methods Phys. Res. B. 2013. V. 309. P. 70.
Блажевич С.В., Носков А.В. // ЖЭТФ. 2016. Т. 150. С. 643.
Блажевич С.В., Бронникова М.В., Носков А.В. // Поверхность. Рентген., синхротр. и нейтрон. исслед. 2020. № 9. С. 66.
Блажевич С.В., Дрыгина Ю.А., Шевчук О.Ю., Носков А.В. // Поверхность. Рентген., синхротр. и нейтрон. исслед. 2020. № 6. С. 43.
Blazhevich S.V., Bronnikova M.V., Noskov A.V. // Phys. Lett. A. 2020. V. 384. Iss. 16. P. 126321.
Блажевич С.В., Люшина К.С., Носков А.В. // ЖЭТФ. 2019. Т. 155. Вып. 2. С. 242.
Блажевич С.В., Носков А.В. // ЖЭТФ. 2017. Т. 152. Вып. 2(8). С. 267.
Алябъева М.В, Блажевич С.В., Горлов А.С., Носков А.В., Федосеев А.Э. // Поверхность. Рентген., синхротр. и нейтрон. исслед. 2021. № 6. С. 62.
Шкуропат Д.О., Блажевич С.В., Горлов А.С., Носков А.В., Федосеев А.Э. // Поверхность. Рентген., синхротр. и нейтрон. исслед. 2021. № 7. С. 78.