Effect of Electron Fluence on the Concentration of Color Centers in Aluminum Oxide Hollow Particles

封面

如何引用文章

全文:

开放存取 开放存取
受限制的访问 ##reader.subscriptionAccessGranted##
受限制的访问 订阅存取

详细

The effect of fluence (1–7) × 1016 cm–2 electrons with an energy of 30 keV on the concentration of color centers in aluminum oxide hollow particles micron-sized in comparison with bulk Al2O3 microparticles was studied. The analysis was carried out using diffuse reflectance spectra in the range from 250 to 2500 nm in situ. The radiation resistance of the microspheres under study was evaluated relative to micropowders from the difference diffuse reflectance spectra obtained by subtracting the spectra after irradiation from the spectra of non-irradiated samples. Changes in the difference diffuse reflection spectra of aluminum oxide microparticles and microspheres obtained with different electron fluences showed that with an increase in the induced electron fluence, absorption increases throughout the spectrum. It was found that the radiation resistance of aluminum oxide microspheres to the effects of electrons with an energy of 30 keV a fluence (1–7) × 1016 cm–2 greater than the radiation resistance of Al2O3 microparticles. The increase in the radiation resistance of aluminum oxide hollow microparticles compared to the radiation resistance of aluminum oxide bulk microparticles is due to the low concentration of induced defects of the anionic sublattice.

作者简介

V. Iurina

Аmur State University; Tomsk State University of Control Systems and Radioelectronics

编辑信件的主要联系方式.
Email: viktoriay-09@mail.ru
Russia, 675027, Blagoveshchensk; Russia, 634050, Tomsk

A. Dudin

Аmur State University

Email: v1ta1y@mail.ru
Russia, 675027, Blagoveshchensk

V. Neshimenko

Аmur State University; Tomsk State University of Control Systems and Radioelectronics

编辑信件的主要联系方式.
Email: v1ta1y@mail.ru
Russia, 675027, Blagoveshchensk; Russia, 634050, Tomsk

M. Mikhailov

Tomsk State University of Control Systems and Radioelectronics

Email: v1ta1y@mail.ru
Russia, 634050, Tomsk

参考

  1. Михайлов М.М. Радиационное и космическое материаловедение. Томск: Издательство Томского университета, 2008. 314 с.
  2. Акишин А.И. Космическое материаловедение. Методическое и учебное пособие. М.: НИИЯФ МГУ, 2007. 209 с.
  3. Михайлов М.М. Прогнозирование оптической деградации терморегулирующих покрытий космических аппаратов. Новосибирск: Сиб. изд. фирма РАН “Наука”, 1999. 192. c.
  4. Neshchimenko V.V., Chundong Li, Mikhailov M.M., Jinpeng Lv. // Nanoscale. 2018. V. 47. № 10. P. 22335. https://www.doi.org/10.1039/C8NR04455D
  5. Neshchimenko V.V., Chundong Li, Mikhailov M.M. // Dyes and Pigments. 2017. V. 145. P. 354. https://www.doi.org/10.1007/s11182-018-1566-4
  6. Mikhailov M.M., Neshchimenko V.V., Sokolovskiy A.N., Yurina V.Yu. // Progress in Organic Coatings. 2019. V. 131. P. 340. https://www.doi.org/10.1016/j.porgcoat.2019.03.001
  7. Bladh K.W., Bideaux R.A., Anthony-Morton E., Nichols B.G. The Handbook of Mineralogy III. Mineral Data Publishing, 1997. P. 628.
  8. Batra I.P. // J. Phys. C: Solid State Phys. 1982. V. 15. P. 5399. https://www.doi.org/10.1088/0022-3719/15/26/019
  9. Mo S.D., Xu Y.N., Ching W.Y. // J. Am. Ceram. Soc. 1997. V. 80. P. 1193.
  10. Arnal P.M., Comotti, M., Schüth F. // Angew. Chem. Int. Ed. 2006. V. 45. № 48. P. 8224. https://www.doi.org/10.1002/anie.200603507
  11. Wang Y.W., Tseng W.J. // J. Am. Ceram. Soc. 2008. V. 92. P. 32. https://www.doi.org/10.1111/j.1551-2916.2008.02653.x
  12. Serebryakova M.A., Zaikovskii A.V., Sakhapov S.Z., Smovzh D.V., Sukhinin G.I., Novopashin S.A. // Int. J. Heat Mass Transfer. 2017. V. 108. P. 1314. https://www.doi.org/10.1016/j.ijheatmasstransfer. 2016.12.098
  13. Aluker E.D., Gavrilov V.V., Chernov S. A. // Phys. Status Solidi B. 1992. V. 1. P. 283. https://www.doi.org/10.1002/pssb.2221710131
  14. Evans B.D., Pogatshnik G.J., Chen Y. // Nucl. Instrum. Methods Phys. Res. B. 1994. V. 91. P. 258. https://www.doi.org/10.1016/0168-583x(94)96227-8
  15. Crawford J.H. // Nucl. Instrum. Methods Phys. Res. B. 1986. V. 1. P. 159. https://www.doi.org/10.1016/0168-583x(84)90063-6
  16. Вертц Дж., Болтон Дж., Теория и практические приложения метода ЭПР. М.: Мир, 1975. 548 с.
  17. Raj S.S., Gupta S.K., Pathak N., Grover V., Tyagi A.K. // Adv. Powder Technol. 2017. V. 28. P. 1505. https://www.doi.org/10.1016/j.apt.2017.03.020
  18. Kim J.S., Kang H.I., Kim W.N., Kim J.I., Choi J.C., Park H.L., Kim G.C., Kim T.W., Hwang Y.H., Mho S.I., Jung M.-C., Han M. // Appl. Phys. Lett. 2003. V. 82. P. 2029. https://www.doi.org/10.1063/1.1564632
  19. Boumaza A., Favaro L., Ledion J., Sattonnay G., Brubach J.B., Berthet P., Huntz A.M., Roy P., Tetot R. // J. Solid State Chem. 2009. V. 182. P. 1171. https://www.doi.org/10.1016/j.jssc.2009.02.006
  20. Surdo A.I., Pustovarov V.A., Kortov V.S., Kishka A.S., Zinin E.I. // Nucl. Instrum. Methods Phys. Res. A. 2005. V. 543. P. 234. https://www.doi.org/10.1016/j.nima.2005.01.189
  21. Itou M.A., Fujiwara T.U // J. Phys. Chem. C. 2009. V. 113. P. 20949. https://www.doi.org/10.1021/JP908417M
  22. Watcharatharapong T., Thienprasert J.T., Limpijumnong S. // Integrated Ferroelectrics. 2014. V. 156. P. 79. https://www.doi.org/10.1080/10584587.2014.906290
  23. Pustovarov V.A., Perevalov T.V., Gritsenko V.A., Smirnova T.P., Yelisseyev A.P. // Thin Solid Films. 2011. V. 519. P. 6319. https://www.doi.org/10.1016/j.tsf.2011.04.014
  24. Wang L., Zhang L.D., Wang J.H., Feng Y.J., Feng K.M., Yang J.J., Liu N. // Nucl. Instrum. Methods Phys. Res. B. 2017. V. 406. P. 600. https://www.doi.org/10.1016/j.nimb.2017.02.073
  25. Caulfield K.J., Cooper R., Boas J.F. // Phys. Rev. B. 1993. V. 47. P. 55. https://www.doi.org/10.1103/PhysRevB.47.55
  26. Perevalov T.V., Tereshenko O.E., Gritsenko V.A., Pustovarov V.A., Yelisseyev A. P., Park C., Lee C. // J. Appl. Phys. 2010. V. 108. P. 013501. https://www.doi.org/10.1063/1.3455843
  27. Pustovarov V.A. Aliev V.S., Perevalov T.V., Gritsenko V.A., Eliseev A.P. // J. Exp. Theor. Phys. 2010. V. 111. P. 989. https://www.doi.org/10.1134/S1063776110120113
  28. Stashans A., Kotomin E., Calais J.-L. // Phys. Rev. B. 1994. V. 49 № 21. P. 14854. https://www.doi.org/10.1103/PhysRevB.49.14854
  29. Iurina V.Yu., Neshchimenko V.V., Chundong Li. // J. Surf. Invest.: X-Ray, Synchrotron Neutron Tech. 2020. V. 14. № 2. P. 253. https://www.doi.org/10.1134/S102745102002038X
  30. Косицын Л.Г., Михайлов М.М., Кузнецов Н.Я., Дворецкий М.И. // Приборы и техника эксперимента. 1985. № 4. С. 176.
  31. Dienes G.J., Welch. D.O., Fischer C.R., Hatcher R.D., Lazareth O., Samberg M. // Phys. Rev. B: Solid State. 1975. V. 11. P. 3060. https://www.doi.org/10.1103/PHYSREVB.11.3060

补充文件

附件文件
动作
1. JATS XML
下载
2.

下载 (396KB)
索引源数据
3.

下载 (77KB)
索引源数据
4.

下载 (56KB)
索引源数据
5.

下载 (197KB)
索引源数据
6.

下载 (162KB)
索引源数据
7.

下载 (55KB)
索引源数据

版权所有 © В.Ю. Юрина, А.Н. Дудин, В.В. Нещименко, М.М. Михайлов, 2023

Согласие на обработку персональных данных с помощью сервиса «Яндекс.Метрика»

1. Я (далее – «Пользователь» или «Субъект персональных данных»), осуществляя использование сайта https://journals.rcsi.science/ (далее – «Сайт»), подтверждая свою полную дееспособность даю согласие на обработку персональных данных с использованием средств автоматизации Оператору - федеральному государственному бюджетному учреждению «Российский центр научной информации» (РЦНИ), далее – «Оператор», расположенному по адресу: 119991, г. Москва, Ленинский просп., д.32А, со следующими условиями.

2. Категории обрабатываемых данных: файлы «cookies» (куки-файлы). Файлы «cookie» – это небольшой текстовый файл, который веб-сервер может хранить в браузере Пользователя. Данные файлы веб-сервер загружает на устройство Пользователя при посещении им Сайта. При каждом следующем посещении Пользователем Сайта «cookie» файлы отправляются на Сайт Оператора. Данные файлы позволяют Сайту распознавать устройство Пользователя. Содержимое такого файла может как относиться, так и не относиться к персональным данным, в зависимости от того, содержит ли такой файл персональные данные или содержит обезличенные технические данные.

3. Цель обработки персональных данных: анализ пользовательской активности с помощью сервиса «Яндекс.Метрика».

4. Категории субъектов персональных данных: все Пользователи Сайта, которые дали согласие на обработку файлов «cookie».

5. Способы обработки: сбор, запись, систематизация, накопление, хранение, уточнение (обновление, изменение), извлечение, использование, передача (доступ, предоставление), блокирование, удаление, уничтожение персональных данных.

6. Срок обработки и хранения: до получения от Субъекта персональных данных требования о прекращении обработки/отзыва согласия.

7. Способ отзыва: заявление об отзыве в письменном виде путём его направления на адрес электронной почты Оператора: info@rcsi.science или путем письменного обращения по юридическому адресу: 119991, г. Москва, Ленинский просп., д.32А

8. Субъект персональных данных вправе запретить своему оборудованию прием этих данных или ограничить прием этих данных. При отказе от получения таких данных или при ограничении приема данных некоторые функции Сайта могут работать некорректно. Субъект персональных данных обязуется сам настроить свое оборудование таким способом, чтобы оно обеспечивало адекватный его желаниям режим работы и уровень защиты данных файлов «cookie», Оператор не предоставляет технологических и правовых консультаций на темы подобного характера.

9. Порядок уничтожения персональных данных при достижении цели их обработки или при наступлении иных законных оснований определяется Оператором в соответствии с законодательством Российской Федерации.

10. Я согласен/согласна квалифицировать в качестве своей простой электронной подписи под настоящим Согласием и под Политикой обработки персональных данных выполнение мною следующего действия на сайте: https://journals.rcsi.science/ нажатие мною на интерфейсе с текстом: «Сайт использует сервис «Яндекс.Метрика» (который использует файлы «cookie») на элемент с текстом «Принять и продолжить».