Анализ состояния поверхностного слоя композиционного сплава САП-2 после облучения мощным ионным пучком

Обложка

Цитировать

Полный текст

Аннотация

Исследовано влияние воздействия мощного ионного пучка наносекундной длительности на фазовый состав и морфологию поверхности композиционного алюминиевого материала САП-2. Обнаружено, что после облучения мощным ионным пучком при всех используемых в экспериментах режимах облучения изменений в фазовом составе не наблюдается. Однако наблюдаемые сдвиги и уширение дифракционных пиков от облученных образцов свидетельствуют о формировании остаточных напряжений и трансформации исходной дислокационной структуры. Обнаруженное уменьшение плотности дислокаций привело к уменьшению микротвердости САП-2, облученных при плотности тока 50 и 100 А/см2. Показано, что увеличение плотности ионного тока приводит к возрастанию доли кислорода в поверхностном слое САП-2, что, по-видимому, связано с частичным испарением алюминия и увеличением концентрации включений Al2O3, входящего в состав материала. Обнаружен нелинейный характер зависимости среднего отношения содержания кислорода к алюминию от плотности ионного тока пучка, максимальное значение которого зафиксировано при облучении пучком с плотностью тока 100 А/см2. Интенсивный нагрев поверхности САП-2 при воздействии ионным пучком приводит к изменению дисперсности включений Al2O3 на облученной поверхности. При этом максимальная коагуляция частиц Al2O3 обнаружена при облучении мощным ионным пучком с плотностью тока 100 А/см2.

Полный текст

ВВЕДЕНИЕ

Модификация материалов потоками высокоэнергетических частиц обеспечивает возможность получения дисперсной и упрочненной структуры в результате нагрева поверхностного слоя до температур, превышающих температуру плавления, с последующим сверхбыстрым охлаждением за счет отвода тепла в нижележащие слои материала [1–5]. При таком воздействии в материале происходят изменения элементного состава и фазового состояния, что в совокупности позволяет получать такие структурно-фазовые состояния материалов, которые при традиционных методах воздействия не реализуются [6–10]. С этой точки зрения воздействие мощного ионного пучка (МИП) на различные материалы представляет практический и научный интерес. Оно характеризуется тепловым и ударно-волновым воздействием, а также дополнительным легированием материала ионами пучка [11]. Специфика воздействия МИП обусловливает сложный характер физико-химических процессов, протекающих в поверхностном слое обрабатываемого материала. В общем случае действие МИП сопровождается нагревом, плавлением и частичным испарением поверхностного слоя; возможна частичная конденсация, образующегося пароплазменного облака на облучаемой поверхности [3–5]. В этом случае скорость охлаждения поверхностного слоя составляет 107—1010 К/с, в результате чего в нем может происходить формирование мелкодисперсных (аморфных) слоев и образование метастабильных фаз [13, 14]. Кроме того, под действием ударных волн на глубине, на несколько порядков превышающей пробег ионов (до 2.7 мкм), происходит рост плотности дислокаций и уменьшение зерен структуры [15, 16]. Следует отметить, что скорость нагрева и охлаждения зависит от свойств материала и параметров пучка. Эффективность модификации определяется наличием полиморфных превращений и существованием переменной растворимости легирующих элементов в сплавах [17, 18]. При некоторых режимах облучения для ряда материалов происходит ухудшение прочностных характеристик, что связано как с формированием определенного структурно-фазового состояния, так и с отжигом дефектов кристаллического строения [19, 20]. Публикаций по влиянию МИП на структуру и свойства материалов различного класса достаточно много, однако малоизученным остается класс металлических материалов, представляющих собой спеченные порошки. В основном проводили исследования воздействия МИП на твердые сплавы, на которых наблюдали стойкий эффект упрочнения, связанный с растворением карбидов и формированием пересыщенных твердых растворов [14, 15]. В настоящей работе в качестве объектов исследования был выбран композиционный материал САП-2, который представляет собой алюминиевую матрицу с равномерно распределенными мелкодисперсными включениями Al2O3. Целью настоящей работы являлось исследование поверхностного слоя композиционного материала САП-2 после облучения МИП в различных режимах. Интерес к исследованию спеченных порошковых сплавов обусловлен зависимостью ряда свойств от размеров растворенных частиц, а также резким различием физико-механических характеристик составляющих этого композиционного материала. Сплавы САП состоят из алюминия и дисперсных чешуек Al2O3, которые эффективно тормозят движение дислокации и повышают прочность сплава. САП применяют в авиастроении для изготовления деталей и конструкций [21].

МЕТОДИКА ЭКСПЕРИМЕНТА

В качестве исследуемых материалов были выбраны образцы алюминиевого композиционного сплава САП-2, состоящего из Al и Al2O3 (9.1–13.0%). Структура САП представляет собой алюминиевую матрицу с равномерно распределенными мелкодисперсными включениями Al2O3, которые обеспечивают дисперсионное упрочнение сплава [21]. Образцы имели поперечный размер 12 × 15 мм и толщину 2 мм. После предварительной обработки, включающей шлифовку и полировку с использованием окиси хрома и алмазных паст, была проведена химическая очистка поверхности. Облучение проводили на ускорителе “Темп” (Омский государственный университет им. Ф.М. Достоевского) протон-углеродным пучком (30% Н+ и 70% С+) с энергией частиц E ≈ 250 кэВ, длительностью импульса облучения τ = 60 нс в диапазоне плотностей тока пучка 50–150 А/см2. В экспериментах варьировали плотность тока пучка j при числе импульсов облучения 1–3.

Оценочное значение пробега ионов МИП указанной энергии в алюминии составляет ~0.573 мкм для ионов углерода и ~2.763 мкм для протонов [7]. Морфологию поверхности и элементный состав модифицированных слоев исследовали с помощью растровой электронной микроскопии (JSM-6610LV, JEOL с энергодисперсионным анализатором Inca-350). Фазовый анализ проводили на рентгеновском дифрактометре “ДРОН-3М” с использованием CuКα-излучения. Микротвердость измеряли методом Виккерса на твердомере ПМТ-3. Величина нагрузки находилась в пределах 0.02–2 Н. Время вдавливания алмазного наконечника 10 с. Относительная погрешность измерений – 5%.

РЕЗУЛЬТАТЫ И ИХ ОБСУЖДЕНИЕ

При воздействии МИП на материал слой поверхности толщиной порядка длины пробега частиц быстро нагревается до высоких температур вплоть до температуры плавления и, может быть, кипения. По окончании импульса облучения нагретый слой быстро охлаждается отводом тепла в толщу материала из-за высокой теплопроводности. Величина градиента температуры зависит от параметров пучка и теплофизических свойств материала. Скорость нагрева может достигать величины ~1010 К/с, а скорость охлаждения ~106–108 К/с [4, 5]. Высокоскоростной неоднородный нагрев мишени создает упругие напряжения, вызывающие либо расширение, либо сжатие вещества мишени. Кроме того, облучение МИП с плотностью мощности более 107 Вт/см2 сопровождается возбуждением волн сжатия за счет возникающего импульса отдачи. В результате этих процессов характеристики поверхностного слоя модифицируются: изменяется морфология, фазовый состав; возможно появление метастабильных фаз и соединений, которые при обычных методах термообработки образоваться не могут; перераспределяются легирующие элементы и т.п. [16–18].

На рис. 1 представлены дифрактограммы образцов САП-2 до (1) и после облучения МИП с различными плотностями ионного тока (2–4). Видно, что в исходном состоянии поверхностный слой образцов алюминия состоит из двух фаз – алюминия с ГЦК-решеткой и параметром а = 4.0499 Å и оксида алюминия Al2O3. Обнаружено, что после облучения МИП при всех используемых в эксперименте режимах облучения изменений в фазовом составе не произошло. Однако наблюдается сдвиг дифракционных пиков облученных образцов и их уширение (рис. 2). Это свидетельствует о формировании остаточных напряжений и искажений субструктуры. В качестве эталона использовали чистый алюминий. Обнаружено небольшое снижение степени кристалличности фазы алюминия и возрастание практически в два раза (по сравнению с необлученным состоянием) размеров областей когерентного рассеяния (табл. 1). Остаточные напряжения по величине мало отличаются при разных режимах облучения, однако произошла смена знака с отрицательного на положительный. Сдвиги в сторону больших углов свидетельствуют о возникновении сжимающих остаточных напряжений. Смена знака остаточных напряжений зависит от параметров деформирования материала мощным ионным пучком и определяется как градиентом температуры, так и протекающими ударно-волновыми процессами. Плотность дислокаций ρ, рассчитанная по величине уширения дифракционных пиков методом аппроксимации функцией, уменьшилась при возрастании плотности ионного тока, что свидетельствует об отжиге дефектов при увеличении времени нахождения поверхностного слоя при высоких температурах. При аппроксимации использовали функцию Гаусса. Из табл. 1 видно уменьшение плотности дислокаций в 5 раз по сравнению с необлученным образцом.

 

Рис. 1. Дифрактограммы САП-2 до (1) и после облучения МИП с плотностью тока 50 (2), 100 (3) и 150 (4) А/см2 тремя импульсами.

 

Рис. 2. Участки дифрактограмм САП-2 до (1) и после облучения МИП с плотностью тока 50 (2), 100 (3) и 150 (4) А/см2 тремя импульсами.

 

Таблица 1. Результаты расчета остаточных напряжений, искажений Δd/d, размеров области когерентного рассеяния D и плотности дислокаций ρ

Плотность тока МИП, А/см2

Напряжения I рода, ГПа

Δd/d, ×10–3

D, Å

ρ, ×1012 см–2

0 (необлученный)

–0.24

10.6

39

20

50

+0.24

71.0

38

9

100

+0.26

51.0

80

5

150

+0.26

47.0

87

4

 

На рис. 3 представлена морфология поверхности сплава САП-2 после облучения МИП с плотностями тока 50, 100 и 150 А/см2 и последующего химического травления. После облучения МИП с плотностью тока 50 А/см2 и травления на поверхности были обнаружены вкрапления и частицы овальной формы с высоким содержанием кислорода, соответствующие окиси алюминия. При повышении плотности тока наблюдали коагуляцию частиц окиси алюминия. Облучение с максимальной плотностью тока привело к формированию отдельных разрозненных частиц Al2O3 по форме приближающихся к сферической. Энергодисперсионный анализ показал, что среднее отношение содержания кислорода к алюминию в необлученных образцах составляет RO/Al = 0.19 и возрастает при облучении с плотностью тока 50 А/см2 до 0.21; при плотности тока 100 А/см2 – до 0.29 и при 150 А/см2 – до 0.27. Это свидетельствует о сложном характере испарения алюминия при возрастании температуры при повышении плотности тока пучка.

 

Рис. 3. Морфология поверхности САП-2: необлученного (а) и облученного МИП с плотностью тока 50 (б), 100 (в) и 150 (г) А/см2 после химического травления.

 

На рис. 4 представлена зависимость микротвердости от глубины проникновения индентора для необлученного и облученных с различной плотностью тока образцов. Видно, что микротвердость в зоне, модифицированной МИП с плотностью тока 50 и 100 А/см2, уменьшилась по сравнению с исходным образцом и облученным МИП с плотностью тока 150 А/см2. При глубине проникновения индентора ~4.5 мкм и более значения микротвердости совпадают между собой в пределах погрешности. Такая зависимость может быть связана с уменьшением плотности дислокаций при их отжиге, а также с ростом размеров области когерентного рассеяния при максимальной плотности ионного тока.

 

Рис. 4. Зависимость микротвердости САП-2 до (1) и после облучения МИП с плотностью тока 50 (2), 100 (3) и 150 (4) А/см2 тремя импульсами.

 

ЗАКЛЮЧЕНИЕ

Исследования воздействия мощного ионного пучка на композиционный сплав САП-2 показали неизменность фазового состава, возникновение сжимающих остаточных напряжений, рост размеров области когерентного рассеяния и уменьшение плотности дислокаций практически в пять раз при высокой плотности ионного тока. Обнаружены значительные изменения содержания кислорода в зоне теплового влияния, что связано как с испарением алюминия, так и с коагуляцией частиц Al2O3.

ФИНАНСИРОВАНИЕ РАБОТЫ

Работа выполнена с использованием оборудования Омского регионального центра коллективного пользования СО РАН.

Конфликт интересов. Авторы заявляют, что у них нет конфликта интересов.

×

Об авторах

Т. В. Панова

Омский государственный университет им. Ф.М. Достоевского

Автор, ответственный за переписку.
Email: panovatv@omsu.ru
Россия, 644077, Омск

В. С. Ковивчак

Омский государственный университет им. Ф.М. Достоевского

Email: panovatv@omsu.ru
Россия, 644077, Омск

Список литературы

  1. Бойко В.И., Скворцов В.А., Фортов В.Е., Шаманин И.В. Взаимодействие импульсных пучков заряженных частиц с веществом. М.: Физматлит, 2003. 286 с.
  2. Погребняк А.Д., Ремнев Г.Е., Чистяков С.А., Лигачев А.Е. // Изв. вузов. Физика. 1987. Т. 30. № 1. C. 52.
  3. Грибков В.А., Григорьев В.И., Калин Б.А., Якушин В.Л. Перспективные радиационно-пучковые технологии обработки материалов. М.: Круглый год, 2001. 528 с.
  4. Модифицирование и легирование поверхности лазерными, ионными и электронными пучками. Пер. с англ. / Поут Дж.М., Фоти Г. и др. М.: Машиностроение, 1987. 423 с.
  5. Якушин В.Л. Радиационно-пучковые технологии обработки материалов. М.: Круглый год, 2001. 528 с.
  6. Диденко А.Н., Лигачев А.Е., Куракин И.Б. Воздействие пучков заряженных частиц на поверхность металлов и сплавов. М.: Энергоатомиздат, 1987. 183 с.
  7. Аброян И.А., Андронов А.Н., Титов А.И. Физические основы электронной и ионной технологии. М.: Высшая школа, 1984. 320 с.
  8. Погребняк А.Д., Иванов Ю.Ф., Лебедь А.Г., Валяев А.Н., Рэнк Т., Томпсон М.О., Жао В. // Металлофизика и новейшие технологии. 2000. Т. 22. № 10. С. 18.
  9. Анищик В.М., Углов В.В. Модификация инструментальных материалов ионными и плазменными пучками. Минск: Изд-во БГУ, 2003. 191с.
  10. Коротаев А.Д., Тюменцев А.Н., Почивалов Ю.И., Овчинников С.В., Ремнев Г.Е., Исаков И.Ф. // Физика металлов и металловедение. 1996. Т. 81. № 5. С. 118.
  11. Быстрицкий В.М., Диденко А.Н. Мощные ионные пучки. М.: Энергоатомиздат, 1984. 152 с.
  12. Жидков М.В., Лигачев А.Е., Колобов Ю.Р., Потемкин Г.В., Ремнев Г.Е. // Изв. вузов. Порошковая металлургия и функциональные покрытия. 2018 № 4. С. 82. https://www.doi.org/10.17073/1997-308X-2018-4-82-91.
  13. Лигачев A.E., Жидков M.В., Колобов Ю.Р.,. Потемкин Г.В, Лукашова M.В., Ремнев Г.Е., Павлов С.К., Тарбоков В.А. Влияние мощного импульсного ионного пучка на топографию поверхности тантала // Proc. of 8th International Congress on Energy Fluxes and Radiation Effects. 2022, Tomsk, Russia. C. 912. https://www.doi.org/10.56761/EFRE2022.C3-P-005001.
  14. Бадамшин А.М., Лептюк А.О. // Омский научный вестник. 2022. № 2 (182). С. 33. https://www.doi.org/10.25206/1813-8225-2022-182-33-37.
  15. Геринг Г.И., Калистратова Н.П., Полещенко К.Н. Механизмы модификации структуры твердых сплавов // Вестник Омского университета. 1997. Вып. 2. С. 29.
  16. Ковивчак В.С., Дубовик В.И., Бурлаков Р.Б. // Поверхность. Рентген., синхротрон. нейтрон. исслед. 2009. № 4. С. 9.
  17. Панова Т.В., Ковивчак В.С., Геринг Г.И., Доро- нин Д.О. // Поверхность. Рентген., синхротр. и нейтрон. исслед. 2013. № 4. С. 1. https://www.doi.org/10.7868/S0207352813040185.
  18. Ремнев Г.Е., Тарбоков В.А., Павлов С.К. // Физика и химия обработки материалов. 2021. № 2. С. 5. https://www.doi.org/10.30791/0015-3214-2021-2-5-26.
  19. Ковивчак В.С., Михайлов К.А., Панова Т.В., Ге- ринг Г.И., Бурлаков Р.Б. // Физика и химия обработки материалов. 2005. № 2. С. 57.
  20. Панова Т.В., Ковивчак В.С. // Поверхность. Рентген., синхротр. и нейтрон. исслед. 2022. № 4. С. 52. https://www.doi.org/10.31857/S1028096022040100.
  21. Фридляндер И.Н., Степанова М.Г., Матвеев Б.И. // Авиационная промышленность.1982. № 8. С. 7.

Дополнительные файлы

Доп. файлы
Действие
1. JATS XML
2. Рис. 1. Дифрактограммы САП-2 до (1) и после облучения МИП с плотностью тока 50 (2), 100 (3) и 150 (4) А/см2 тремя импульсами.

Скачать (91KB)
3. Рис. 2. Участки дифрактограмм САП-2 до (1) и после облучения МИП с плотностью тока 50 (2), 100 (3) и 150 (4) А/см2 тремя импульсами.

Скачать (126KB)
4. Рис. 3. Морфология поверхности САП-2: необлученного (а) и облученного МИП с плотностью тока 50 (б), 100 (в) и 150 (г) А/см2 после химического травления.

Скачать (855KB)
5. Рис. 4. Зависимость микротвердости САП-2 до (1) и после облучения МИП с плотностью тока 50 (2), 100 (3) и 150 (4) А/см2 тремя импульсами.

Скачать (95KB)

© Российская академия наук, 2024

Согласие на обработку персональных данных с помощью сервиса «Яндекс.Метрика»

1. Я (далее – «Пользователь» или «Субъект персональных данных»), осуществляя использование сайта https://journals.rcsi.science/ (далее – «Сайт»), подтверждая свою полную дееспособность даю согласие на обработку персональных данных с использованием средств автоматизации Оператору - федеральному государственному бюджетному учреждению «Российский центр научной информации» (РЦНИ), далее – «Оператор», расположенному по адресу: 119991, г. Москва, Ленинский просп., д.32А, со следующими условиями.

2. Категории обрабатываемых данных: файлы «cookies» (куки-файлы). Файлы «cookie» – это небольшой текстовый файл, который веб-сервер может хранить в браузере Пользователя. Данные файлы веб-сервер загружает на устройство Пользователя при посещении им Сайта. При каждом следующем посещении Пользователем Сайта «cookie» файлы отправляются на Сайт Оператора. Данные файлы позволяют Сайту распознавать устройство Пользователя. Содержимое такого файла может как относиться, так и не относиться к персональным данным, в зависимости от того, содержит ли такой файл персональные данные или содержит обезличенные технические данные.

3. Цель обработки персональных данных: анализ пользовательской активности с помощью сервиса «Яндекс.Метрика».

4. Категории субъектов персональных данных: все Пользователи Сайта, которые дали согласие на обработку файлов «cookie».

5. Способы обработки: сбор, запись, систематизация, накопление, хранение, уточнение (обновление, изменение), извлечение, использование, передача (доступ, предоставление), блокирование, удаление, уничтожение персональных данных.

6. Срок обработки и хранения: до получения от Субъекта персональных данных требования о прекращении обработки/отзыва согласия.

7. Способ отзыва: заявление об отзыве в письменном виде путём его направления на адрес электронной почты Оператора: info@rcsi.science или путем письменного обращения по юридическому адресу: 119991, г. Москва, Ленинский просп., д.32А

8. Субъект персональных данных вправе запретить своему оборудованию прием этих данных или ограничить прием этих данных. При отказе от получения таких данных или при ограничении приема данных некоторые функции Сайта могут работать некорректно. Субъект персональных данных обязуется сам настроить свое оборудование таким способом, чтобы оно обеспечивало адекватный его желаниям режим работы и уровень защиты данных файлов «cookie», Оператор не предоставляет технологических и правовых консультаций на темы подобного характера.

9. Порядок уничтожения персональных данных при достижении цели их обработки или при наступлении иных законных оснований определяется Оператором в соответствии с законодательством Российской Федерации.

10. Я согласен/согласна квалифицировать в качестве своей простой электронной подписи под настоящим Согласием и под Политикой обработки персональных данных выполнение мною следующего действия на сайте: https://journals.rcsi.science/ нажатие мною на интерфейсе с текстом: «Сайт использует сервис «Яндекс.Метрика» (который использует файлы «cookie») на элемент с текстом «Принять и продолжить».