Микроэлектроника
ISSN 0544-1269 (Print)
Меню
Архив
Главная
О журнале
Редакция
Редакционная политика
Правила для авторов
О журнале
Выпуски
Поиск
Текущий выпуск
Ретрагированные статьи
Архив
Контакты
Все журналы
Пользователь
Имя пользователя
Пароль
Запомнить меня
Забыли пароль?
Регистрация
Ключевые слова
атомно-слоевое осаждение
диагностика
интенсивность излучения
квантовая точка
кинетика
кремний
магнетронное распыление
мемристор
механизм
моделирование
наноэлектроника
плазма
полимеризация
приведенная напряженность электрического поля
резистивные переключения
рутений
температура газа
тестирование
тетрафторметан
травление
удельная мощность
Инструменты статьи
Распечатать статью
Посмотреть метаданные
Цитировать
Отправить статью по E-mail
(Необходимо войти/зарегистрироваться)
Связаться с автором
(Необходимо войти/зарегистрироваться)
Метрики
Поиск
Поиск
Область поиска
Все
Авторы
Название
Резюме
Термины
Полный текст
Листать
выпуски
По автору
по заглавиям
другие журналы
Текущий выпуск
Том 54, № 1 (2025)
Уведомления
Посмотреть
Подписаться
×
Пользователь
Имя пользователя
Пароль
Запомнить меня
Забыли пароль?
Регистрация
Ключевые слова
атомно-слоевое осаждение
диагностика
интенсивность излучения
квантовая точка
кинетика
кремний
магнетронное распыление
мемристор
механизм
моделирование
наноэлектроника
плазма
полимеризация
приведенная напряженность электрического поля
резистивные переключения
рутений
температура газа
тестирование
тетрафторметан
травление
удельная мощность
Инструменты статьи
Распечатать статью
Посмотреть метаданные
Цитировать
Отправить статью по E-mail
(Необходимо войти/зарегистрироваться)
Связаться с автором
(Необходимо войти/зарегистрироваться)
Метрики
Поиск
Поиск
Область поиска
Все
Авторы
Название
Резюме
Термины
Полный текст
Листать
выпуски
По автору
по заглавиям
другие журналы
Текущий выпуск
Том 54, № 1 (2025)
Уведомления
Посмотреть
Подписаться
Главная
>
Архив
>
Том 52, № 6 (2023)
>
ВНИМАНИЮ АВТОРОВ
>
PDF
ВНИМАНИЮ АВТОРОВ - PDF (Русский)
Загрузить этот файл PDF
© Российская академия наук, 2023