PT-симметричная фотопроводимость, стимулированная микроволновым излучением, в гетероструктурах на основе топологической фазы xCdxTe

Обложка

Цитировать

Полный текст

Аннотация

В работе сообщается об обнаружении нового эффекта - PT-симметричной фотопроводимости при воздействии микроволнового излучения в гетероструктурах на основе толстых пленок Hg1 − xCdxTe в области составов, соответствующих топологической фазе, при том, что отдельно симметрия по магнитному полю (T-симметрия) и по расположению пар потенциальных контактов (P-симметрия) не сохраняются. В аналогичных гетероструктурах на основе тривиальной фазы Hg1 − xCdxTe микроволновая фотопроводимость является как P-, так и T-симметричной.

Об авторах

С. Н. Чмырь

МГУ имени М. В. Ломоносова

Email: khokhlov@mig.phys.msu.ru
119991, Москва, Россия

А. С. Казаков

МГУ имени М. В. Ломоносова

Email: khokhlov@mig.phys.msu.ru
119991, Москва, Россия

А. В. Галеева

МГУ имени М. В. Ломоносова

Email: khokhlov@mig.phys.msu.ru
119991, Москва, Россия

Д. Е. Долженко

МГУ имени М. В. Ломоносова

Email: khokhlov@mig.phys.msu.ru
119991, Москва, Россия

А. И. Артамкин

МГУ имени М. В. Ломоносова

Email: khokhlov@mig.phys.msu.ru
119991, Москва, Россия

А. В. Иконников

МГУ имени М. В. Ломоносова

Email: khokhlov@mig.phys.msu.ru
119991, Москва, Россия

Н. Н. Михайлов

Институт физики полупроводников им. А. В. Ржанова Сибирского отделения РАН

Email: khokhlov@mig.phys.msu.ru
630090, Новосибирск, Россия

С. А. Дворецкий

Институт физики полупроводников им. А. В. Ржанова Сибирского отделения РАН

Email: khokhlov@mig.phys.msu.ru
630090, Новосибирск, Россия

М. И. Банников

Физический институт им. П. Н. Лебедева РАН

Автор, ответственный за переписку.
Email: khokhlov@mig.phys.msu.ru
119991, Москва, Россия

Список литературы

  1. M. Z. Hasan and C. L. Kane, Rev. Mod. Phys. 82, 3045 (2010).
  2. Y. Ando, J. Phys. Soc. Jpn. 82, 102001 (2013).
  3. O. Breunig and Y. Ando, Nat. Rev. Phys. 4, 184 (2022).
  4. H. Plank and S. D. Ganichev, Solid State Electronics 147, 44 (2018).
  5. K.-M. Dantscher, D. A. Kozlov, P. Olbrich, C. Zoth, P. Faltermeier, M. Lindner, G. V. Budkin, S. A. Tarasenko, V. V. Bel'kov, Z. D. Kvon, N. N. Mikhailov, S. A. Dvoretsky, D. Weiss, B. Jenichen, and S. D. Ganichev, Phys. Rev. B 92, 165314 (2015).
  6. K.-M. Dantscher, D. A. Kozlov, M. T. Scherr, S. Gebert, J. B¨arenf¨anger, M. V. Durnev, S. A. Tarasenko, V. V. Bel'kov, N. N. Mikhailov, S. A. Dvoretsky, Z. D. Kvon, J. Ziegler, D. Weiss, and S. D. Ganichev, Phys. Rev B 95, 201103 (2017).
  7. S. G. Egorova, V. I. Chernichkin, L. I. Ryabova, E. P. Skipetrov, L. V. Yashina, S. N. Danilov, S. D. Ganichev, and D. R. Khokhlov, Sci. Rep. 5, 11540 (2015).
  8. A. V. Galeeva, S. G. Egorova, V. I. Chernichkin, M. E. Tamm, L. V. Yashina, V. V.Rumyantsev, S. V. Morozov, H. Plank, S. N. Danilov, L. I. Ryabova, and D. R. Khokhlov, Semicond. Sci. Technol. 31, 095010 (2016).
  9. A. V. Galeeva, I. V. Krylov, K. A. Drozdov, A. F. Knjazev, A. V. Kochura, A. P. Kuzmenko, V. S. Zakhvalinskii, S. N. Danilov, L. I. Ryabova, and D. R. Khokhlov, Beilstein J. Nanotechnol. 8, 167 (2017).
  10. A. Rogalski, Rep. Prog. Phys. 68, 2267 (2005).
  11. M. Weiler, Semiconductors and semimetals, ed. by R. Willardson and A. Beer, Academic press, N.Y. (1981), v. 16, p. 119.
  12. M. Orlita, D. M. Basko, M. S. Zholudev, F. Teppe, W. Knap, V. I. Gavrilenko, N. N. Mikhailov, S. A. Dvoretskii, P. Neugebauer, C. Faugeras, A.-L. Barra, G. Martinez, and M. Potemski, Nat. Phys. 10, 233 (2014).
  13. A. V. Galeeva, A. S. Kazakov, A. I. Artamkin, L. I. Ryabova, S. A. Dvoretsky, N. N. Mikhailov, M. I. Bannikov, S. N. Danilov, and D. R. Khokhlov, Sci. Rep. 10, 2377 (2020).
  14. A. V. Galeeva, A. I. Artamkin, A. S. Kazakov, A. V. Ikonnikov, L. I. Ryabova, S. A. Dvoretsky, N. N. Mikhailov, M. I. Bannikov, S. N. Danilov, and D. R. Khokhlov, Sci. Rep. 11, 1587 (2021).
  15. A. S. Kazakov, A. V. Galeeva, A. I. Artamkin, A. V. Ikonnikov, L. I. Ryabova, S. A. Dvoretsky, N. N. Mikhailov, M. I. Bannikov, S. N. Danilov, and D. R. Khokhlov, Sci. Rep. 11, 11638 (2021).
  16. A. V. Galeeva, A. I. Artamkin, A. S. Kazakov, S. N. Danilov, S. A. Dvoretskiy, N. N. Mikhailov, L. I. Ryabova, and D. R. Khokhlov, Beilsten J. Nanotechnol. 9, 1035 (2018).
  17. K. K. Svitashev, S. A. Dvoretskiy, Y. G. Sidorov, V. A. Shvets, A. S. Mardezhov, I. E. Nis, V. S. Varavin, V. Liberman, and V. G. Remesnik, Crystal Research and Technology 29(7), 931 (1994).
  18. V. S. Varavin, S. A. Dvoretskiy, D. G. Ikusov, N. N. Mikhailov, V. G. Remesnik, G. Yu. Sidorov, Yu. G. Sidorov, P. N. Sizikov, and I. N. Uzhakov, Optoelectroncs, Instrumentation and Data Processing 49, 4 (2013).
  19. S. A. Dvoretsky, D. G. Ikusov, Z. D. Kvon, N. N. Mikhailov, V. G. Remesnik, R. N. Smirnov, Yu. G. Sidorov, and V. A. Shvets, Semiconductor Physics, Quantum Electronics & Optoelectronics 10, 47 (2007).

Дополнительные файлы

Доп. файлы
Действие
1. JATS XML

© Российская академия наук, 2023

Согласие на обработку персональных данных

 

Используя сайт https://journals.rcsi.science, я (далее – «Пользователь» или «Субъект персональных данных») даю согласие на обработку персональных данных на этом сайте (текст Согласия) и на обработку персональных данных с помощью сервиса «Яндекс.Метрика» (текст Согласия).