МЕТОДИКА ДИАГНОСТИКИ ПЛАЗМЫ ПО РЕЗОНАНСНЫМ ЛИНИЯМ NE-ПОДОБНОГО KR XXVII И ИХ САТЕЛЛИТАМ

Обложка

Цитировать

Полный текст

Аннотация

Рассмотрена рентгеноспектральная диагностика лазерной плазмы тяжелых элементов, не содержащей малоэлектронных ионов. Развит рентгеноспектральный метод измерения температуры и плотности лазерной плазмы криптоновых кластерных мишеней, использующий резонансные спектральные линии Ne-подобных ионов Kr XXVII криптона и их диэлектронные сателлиты, обусловленные переходами в Na- и Mg-подобных ионах Kr XXVI и KrXXV. Использование результатов проведенных расчетов позволяет определять ионную плотность плазмы в диапазоне 1017–1021 см−3 и электронную температуру в диапазоне 200–1000 эВ. Показано, что для экспериментальной регистрации всех необходимых диагностических спектральных линий ионов криптона может быть применен один спектрометр со сферически изогнутым кристаллом кварца, обладающий достаточно высокими спектральным и пространственным разрешением.

Об авторах

И. Ю. Скобелев

Объединенный институт высоких температур РАН; Национальный исследовательский ядерный университет МИФИ

Email: igor.skobelev@gmail.com
Москва, Россия; Москва, Россия

Р. К. Куликов

Объединенный институт высоких температур РАН; Национальный исследовательский ядерный университет МИФИ

Email: roma.st.2001@gmail.com
Москва, Россия; Москва, Россия

С. Н. Рязанцев

Объединенный институт высоких температур РАН; Национальный исследовательский ядерный университет МИФИ

Email: ryazantsev@ihed.ras.ru
Москва, Россия; Москва, Россия

Список литературы

  1. Fortov V.E. and Morfill G.E. Complex and Dusty Plasmas: From Laboratory to Space. CRC Press, 2010.
  2. Fennel T., Meiwes-Broer K.-H., Tiggesb¨аumker J., Reinhard P.-G., Dinh P.M. and Suraud E. // Rev. Mod. Phys. 2010. V. 82. 1793.
  3. Ditmire T., Zweiback J., Yanovsky V.P., Cowan T.E., Hays G. and Wharton K.B. // Nature. 1999. V. 398. P. 489
  4. Grillon G., Balcou Ph., Chambaret J.-P., Hulin D., Martino J., Moustaizis S., Notebaert L., Pittman M., Pussieux Th., Rousse A., Rousseau J-Ph., Sebban S., Sublemontier O. and Schmid M. // Phys. Rev. Lett. 2002. V. 89. 065005.
  5. Lu H.Y., Liu J.S., Wang C., Wang W.T., Zhou Z.L., Deng A.H., Xia C.Q., Xu Y., Lu X.M., Jiang Y.H., Leng Y.X., Liang X.Y., Ni G.Q., Li R.X. and Xu Z.Z. // Phys. Rev A. 2009. 80. 051201(R)
  6. Last I., Ron S. and Jortner J. // Phys. Rev. A. 2011. V. 83. 043202. https://doi.org/10.1103/PHYSREVA.83.043202
  7. Ditmire T., Tisch J.W.G., Springate E., Mason M.B., Hay N., Smith R.A., Marangos J. and Hutchinson M.H.R. // Nature. 1997. V. 386. P. 54. https://doi.org/10.1038/386054a0
  8. Tajima T., Kishimoto Y. and Downer M.C. // Phys. Of Plasmas. 1999. V. 6. P. 3759.
  9. Sakabe S., Shimizu S., Hashida M., Sato F., Tsuyukushi T., Nishihara K., Okihara S., Kagawa T., Izawa Y., Imasaki K. and Iida T. // Phys. Rev. A. 2004. V. 69. 023203. http://dx.doi.org/10.1103/PhysRevA.69.023203
  10. Zhang L., Chen L.-M., Wang W.-M., Yan W.-Ch., Yuan D.-W., Mao J.-Y., Wang Z.-H., Liu Ch., Shen Z.-W., Faenov A., Pikuz T., Li D.-Z., Li Y.-T., Dong Q.-L., Lu X., Ma J.-L., Wei Z.-Y., Sheng Z.-M., Zhang J. // Appl. Phys. Lett. 2012. V. 100. 014104. https://doi.org/10.1063/1.3673911
  11. Hah J., Nees J.A., Hammig M.D., Krushelnick K. and Thomas A.G.R. // Plasma Phys. Control. Fusion. 2018. V. 60. 054011.
  12. McPherson A., Thompson B.D., Borisov A.B., Boyer K. and Rhodes C.K. // Nature. 1994. V. 370. P. 631. https://doi.org/10.1038/370631a0
  13. Donnelly T.D., Ditmire T., Neuman K., Perry M.D. and Falcone R.W. // Phys. Rev. Lett. 1996. V. 76. P. 2472. https://doi.org/10.1103/PhysRevLett.76.2472
  14. Chu H.-H., Tsai H.-E., Chou M.-C., Yang L.-S., Lin J.-Y., Lee C.-H., Wang J. and Chen S.-Y. // Phys. Rev. A. 2005. V. 71. 061804(R). https://doi.org/10.1103/PhysRevA.71.061804
  15. Namba S., Hasegawa N., Nagashima K., Kawachi T., Kishimoto M., Sukegawa K. and Takiyama K. // Phys. Rev. A. 2006. V. 73. 013205.
  16. Kugland N.L., Constantin C.G., Neumayer P., Chung H.-K., Collette A., Dewald E.L., Froula D.H., Glenzer S.H., Kemp A., Kritcher A.L., Ross J.S., Niemann C. // Appl. Phys. Lett. 2008. V. 92. 241504. https://doi.org/10.1063/1.2945795
  17. Chen L.M., Liu F., Wang W.M., Kando M., Mao J.Y., Zhang L., Ma J.L., Li Y.T., Bulanov S.V., Tajima T. // Phys. Rev. Lett. 2010. V. 104. 215004.
  18. Hayashi Y., Pirozhkov A.S., Kando M., Fukuda Y., Faenov A., Kawase K., Pikuz T., Nakamura T., Kiriyama H., Okada H. and Bulanov S.V. // Opt. Lett. 2011. V. 36(9). P. 1614.
  19. Zhang L., Chen L.-M., Yuan D.-W., Yan W.-Ch., Wang Z.-H., Liu Ch., Shen Z.-W., Faenov A., Pikuz T., Skobelev I., Gasilov V., Boldarev A., Mao J.-Y., Li Y.-T., Dong Q.-L., Lu X., Ma J.-L., Wang W.-M., Sheng Z.-M. and Zhang J. // Opt. Express. 2011. V. 19(25). 25812. https://doi.org/10.1364/OE.19.025812
  20. Chen L.M., Yan W.C., Li D.Z., Hu Z.D., Zhang L., Wang W.M., Hafz N., Mao J.Y., Huang K., Ma Y., Zhao J.R., Ma J.L., Li Y.T., Lu X., Sheng Z.M., Wei Z.Y., Gao J. and Zhang J. // Scientific Reports. 2013. V. 3. P. 1912
  21. Le´cz Zs., Andreev A. and Hafz N. // Phys. Rev. E. 2020. V. 102. 053205.
  22. Бойко В.А., Виноградов А.В., Пикуз С.А., Скобелев И.Ю., Фаенов А.Я. Рентгеновская спектроскопия лазерной плазмы. М.: ВИНИТИ, Итоги науки и техники. Радиотехника, 1980. Т. 27.
  23. Skobelev I.Yu., Faenov A.Ya., Magunov A.I., Pikuz T.A., Boldarev A.S., Gasilov V.A., Abdallach J., Jr., Junkel-Vives G.C., Auguste T., Dobosz S., d’Oliveira P., Hulin S., Monot P., Blasco F., Dorchies F., Caillaud T., Bonte C., Stenz C., Salin F., Loboda P.A., Litvinenko I.A., Popova V.V., Baidin G.V. and Sharkov B.Yu. // J. Exp. Theor. Phys. 2002. V. 94. P. 966. https://doi.org/10.1134/1.1484990
  24. Jinno S., Fukuda Y., Sakaki H., Yogo A., Kanasaki M., Kondo K., Faenov A.Ya., Skobelev I.Yu., Pikuz T.A., Boldarev A.S. and Gasilov V.A. // Opt. Express. 2013. V. 21. 20656. https://doi.org/10.1364/OE.21.020656
  25. Бойко В.А., Пальчиков В.Г., Скобелев И.Ю. и Фаенов А.Я., Рентгеновская спектроскопия многозарядных ионов. М.: Энергоатомиздат, 1988
  26. Khakhalin S.Ya., Dyakin V.M., Faenov A.Ya., Fiedorowicz H., Bartnik A., Parys P., Osterheld A.L., Nilsen J. // J. Opt. Soc. Amer. 1995. B(12). 1203.
  27. http://spectr-w3.snz.ru/
  28. Skobelev I.Yu., Ryazantsev S.N., Kulikov R.K. et al. // Photonics. 2023. V. 10(11). P. 1250
  29. Gu M.F. // Canadian Journal of Physics. 2008. V. 86(5). 675
  30. Faenov A.Ya., Pikuz S.A., Erko A.I., Bryunetkin B.A., Dyakin V.M., Ivanenkov G.V., Mingaleev A.R., Pikuz T.A., Romanova V.M. and Shelkovenko T.A. // Physica Scripta. 1994. V. 50(4). P. 333

Дополнительные файлы

Доп. файлы
Действие
1. JATS XML
Скачать

© Российская академия наук, 2025

Согласие на обработку персональных данных с помощью сервиса «Яндекс.Метрика»

1. Я (далее – «Пользователь» или «Субъект персональных данных»), осуществляя использование сайта https://journals.rcsi.science/ (далее – «Сайт»), подтверждая свою полную дееспособность даю согласие на обработку персональных данных с использованием средств автоматизации Оператору - федеральному государственному бюджетному учреждению «Российский центр научной информации» (РЦНИ), далее – «Оператор», расположенному по адресу: 119991, г. Москва, Ленинский просп., д.32А, со следующими условиями.

2. Категории обрабатываемых данных: файлы «cookies» (куки-файлы). Файлы «cookie» – это небольшой текстовый файл, который веб-сервер может хранить в браузере Пользователя. Данные файлы веб-сервер загружает на устройство Пользователя при посещении им Сайта. При каждом следующем посещении Пользователем Сайта «cookie» файлы отправляются на Сайт Оператора. Данные файлы позволяют Сайту распознавать устройство Пользователя. Содержимое такого файла может как относиться, так и не относиться к персональным данным, в зависимости от того, содержит ли такой файл персональные данные или содержит обезличенные технические данные.

3. Цель обработки персональных данных: анализ пользовательской активности с помощью сервиса «Яндекс.Метрика».

4. Категории субъектов персональных данных: все Пользователи Сайта, которые дали согласие на обработку файлов «cookie».

5. Способы обработки: сбор, запись, систематизация, накопление, хранение, уточнение (обновление, изменение), извлечение, использование, передача (доступ, предоставление), блокирование, удаление, уничтожение персональных данных.

6. Срок обработки и хранения: до получения от Субъекта персональных данных требования о прекращении обработки/отзыва согласия.

7. Способ отзыва: заявление об отзыве в письменном виде путём его направления на адрес электронной почты Оператора: info@rcsi.science или путем письменного обращения по юридическому адресу: 119991, г. Москва, Ленинский просп., д.32А

8. Субъект персональных данных вправе запретить своему оборудованию прием этих данных или ограничить прием этих данных. При отказе от получения таких данных или при ограничении приема данных некоторые функции Сайта могут работать некорректно. Субъект персональных данных обязуется сам настроить свое оборудование таким способом, чтобы оно обеспечивало адекватный его желаниям режим работы и уровень защиты данных файлов «cookie», Оператор не предоставляет технологических и правовых консультаций на темы подобного характера.

9. Порядок уничтожения персональных данных при достижении цели их обработки или при наступлении иных законных оснований определяется Оператором в соответствии с законодательством Российской Федерации.

10. Я согласен/согласна квалифицировать в качестве своей простой электронной подписи под настоящим Согласием и под Политикой обработки персональных данных выполнение мною следующего действия на сайте: https://journals.rcsi.science/ нажатие мною на интерфейсе с текстом: «Сайт использует сервис «Яндекс.Метрика» (который использует файлы «cookie») на элемент с текстом «Принять и продолжить».