Анализ химического состава и структуры пленок сложных оксидов микронной толщины методами электронно-зондового микроанализа и конфокальной спектроскопии комбинационного рассеяния света на примере пленки MgAl2O4 на SiO2 - PDF (Русский)


© В.А. Булатов, Ю.В. Щапова, Д.А. Замятин, Л.Я. Сушанек, А.С. Каменецких, С.Л. Вотяков, 2023

Согласие на обработку персональных данных

 

Используя сайт https://journals.rcsi.science, я (далее – «Пользователь» или «Субъект персональных данных») даю согласие на обработку персональных данных на этом сайте (текст Согласия) и на обработку персональных данных с помощью сервиса «Яндекс.Метрика» (текст Согласия).