Эллипсометрическая спектротомография многослойных покрытий-абсорберов гелиоустановок солнечной энергетики

Обложка

Цитировать

Полный текст

Открытый доступ Открытый доступ
Доступ закрыт Доступ предоставлен
Доступ закрыт Только для подписчиков

Аннотация

Представлены методические основы спектральной эллипсометрической томографии для неразрушающего контроля и дальнейшей классификации структуры и состава многослойных пленок, пленочных наноструктур и нанокомпозитов в процессе их роста, используемых при построении новых типов оптических поглощающих покрытий солнечных коллекторов. Полученные на различных длинах волн эллипсометрические параметры позволяют определить распределение комплексного показателя преломления по глубине пленки. Данные Раман-спектроскопии позволяют получить дополнительную информацию по морфологии и фазовому составу многослойной пленки. На основе полученных данных производится классификация структуры, состава и отсюда теплофизических свойств многослойных пленок. Это позволяет на основании отдельной обучающей выборки рассчитать поглощение солнечного излучения в поглощающем покрытии на всех стадиях его роста и отсюда спрогнозировать температурный режим коллектора гелиоустановки.

Полный текст

Доступ закрыт

Об авторах

В. А. Котенев

Федеральное государственное бюджетное учреждение науки Институт физической химии и электрохимии имени А.Н. Фрумкина РАН

Автор, ответственный за переписку.
Email: m-protect@mail.ru
Россия, Ленинский пр., 31, корп. 4, Москва, 119071

Д. Н. Тюрин

Федеральное государственное бюджетное учреждение науки Институт физической химии и электрохимии имени А.Н. Фрумкина РАН

Email: m-protect@mail.ru
Россия, Ленинский пр., 31, корп. 4, Москва, 119071

Список литературы

  1. Agnihotri O.P., Gupta B.K. // Solar selective surfaces. John-Wiley & Sons. NY. 1981.
  2. Evangelisti Luca, De Lieto Vollaro Roberto, Asdrubali Francesco. Latest advances on solar thermal collectors: A comprehensive review. // Renewable and Sustainable Energy Reviews. 2019. V.114. P. 109318.
  3. Ghobadi B., Kowsary F. & Veysi F. Heat Transfer Enhancement Using Rectangular and Triangular Shaped Baffles with and without Nanofluid: New Insight into Optimization of Flow Geometric Parameters. // Prot. Met. Phys. Chem. Surf. 2022. V. 58. P. 486–500.
  4. Kennedy C.E. Review of mid-tohigh-temperature solar selective absorber materials. United States: National Renewable Energy Laboratory. 2002. NREL/TP-520-31267. July.
  5. Boriskina S.V., Ghasemi H. and Chen G. Plasmonic materials for energy: From physics to applications // Materials Today. 2013. V. 16. № 10. P. 375–386.
  6. Iakobson O.D., Gribkova O.L. & Tameev A.R . Optimizing the Thickness of Functional Layers of Polymer Solar Cells: Modeling and Experiment. // Prot. Met. Phys. Chem. Surf. 2021. V. 57. P. 753–759.
  7. Demirbilek N., Yakuphanoğlu F. & Kaya M. The Optical and Structural Properties of Undoped ZnO and Co-doped ZnO:Alx:Cdy x = 1 at %, y = 1, 2, 3, 5 at % Thin Films and Their Electrical Characteristics as Photodiode. // Prot. Met. Phys. Chem. Surf. 2021. V.57. P. 488–499.
  8. Medina-Almazán A.L., López-García N., Marín-Almazo M. et al. Evaluation of the Electrochemical Behavior of Preoxidized 304L SS with Hydrothermal Ceramic Nanodeposits at 288C and 8 MPa. // Prot. Met. Phys. Chem. Surf. 2021. V. 57. P. 723–734.
  9. López-Marino S. et.al. Earth-abundant absorber based solar cells on low weight stainless Steel substrate // Sol. Energy Mater. Sol.Cells. 2014. V.130. P. 347–53.
  10. Zhorin V.A., Kiselev M.R., Vysotsky V.V. et al. Iron Oxidation in a Mixture with Polycarbonate after Plastic Deformation under High Pressure. // Prot. Met. Phys. Chem. Surf. 2021. V. 57. P. 52–58.
  11. Kumar D., Singh A., Shinde V. et al. Sol-Ageing Effect on the Structural and Optical Properties of Undoped and Doped ZrO2 Thin Films. // Prot. Met. Phys. Chem. Surf. 2022. V. 58. P. 999–1010.
  12. Zahra S.t., Syed W.A., Rafiq N. et al. On Structural. Optical, and Electrical Properties of Chromium Oxide Cr2O3 Thin Film for Applications. // Prot. Met. Phys. Chem. Surf. 2021. V. 57. P. 321–328.
  13. Roos A., Ribbing C.G., Carlsson B. // Stainless steel solar mirrors , A material feasibility study. // Solar Energy Materials. 1989. V. 18. № 5. P. 233–240.
  14. Kalogirou S.A. Solar thermal collectors and applications. // Progress in Energy and Combustion Science. 2004. V. 30. № 3. P. 231–295.
  15. Paranaiba O, Neto V. Intelligent Computational Nanotechnology: The Role of Computational Intelligence in the Development of Nanoscience and Nanotechnology // Journal of Computational and Theoretical Nanoscience. 2014. V. 11. P. 1–17.
  16. Li D., and Du Y. Artificial intelligence with uncertainty. Chapman & Hall/CR C. Taylor & Francis Group. N.Y. 2008.
  17. Kotenev V.A. Ellipsometric tomography / Proc. SPI E. V.1843. 1992. P.259.
  18. Kotenev V.A. The Formation of Metal – Oxide Heterostructures at Low. Temperature Oxidation of Alloys Based on the Fe – 18Cr System. // Prot. Met. Phys. Chem. Surf. 2021. V. 57. P. 1150–1158.
  19. Kotenev V.A. // Prot. Met. Phys. Chem. Surf. 2023. V. 59. № 4. Р. 577–586.
  20. Биркс Н. Майер Дж. Введение в высокотемпературное окисление металлов. М.: Металлургия. 1987. 184 с. N. Birks. G. H. Meier // Introduction to high temperature oxidation of metals. // Edward Arnold. 1987.
  21. Tanaka T. Optical constants of polycrystalline 3d transition metal oxides in the wavelength region 350 to 1200 nm. // Jap. J. Appl. Phys. 1979. V.18. № 6. P. 1043–1047.
  22. Gardiner D.J., Littleton C.J., Thomas K.M., Stratford K.N. // Oxidation of Metals. 1987. V. 27. № 1/2. P. 57.
  23. Losurdo M., Hingerl K. Ellipsometry at the Nanoscale. Springer-Verlag. Berlin. Heidelberg. 2013
  24. Azzam R. M. A., Kemp Jr R. H. Aider functions of stratified and inhomogeneous light-reflecting structures // Surface science. 1983. V. 135. N. 1-3. P. 261-275.
  25. Fujiwara H. Spectroscopic Ellipsometry: Principles and Applications. Wiley. West Sussex. 2007.
  26. Kaiser J.H. Regularization in Ellipsometry // Appl.Phys. B. 1988. V.45. P.1.
  27. Тихонов А.Н., Арсенин В.Я. Методы решения некорректных задач. М.: Наука. 1986. 287 С.
  28. Верлань А.Ф., Сизиков В.С . Интегральные уравнения. Киев: Наукова Думка, 1986. 543 C.
  29. Petrik P., Agocs E., Volk J., Lukacs I. et al. Resolving lateral and vertical structures by ellipsometry using wavelength range scan // Thin Solid Films. 2014. V. 571. Part 3. P. 579–583.
  30. Mar H.Y.B. et al.. Techn. Rept. № PB-252–383. Honeywell Corporation. 1976.
  31. Котенев В.А. О низкотемпературной пассивности железа при газовом окислении. // Защита металлов. 200. Т. 39. № 4. С. 341–351.
  32. Котенев В. А., Петрунин М. А., Максаева Л. Б. и др. Вакуумное окисление нанопленок свеженапыленного железа. // Физикохимия поверхности и защита материалов. 2013. Т. 49. № 4. С. 442–448.

Дополнительные файлы

Доп. файлы
Действие
1. JATS XML
2. Рис. 1. Оптическая модель неоднородного оксидного слоя на коллекторе: a – окружающая среда, s – подложка (металл коллектор), m – общее количество подслоев, d – толщина j – го подслоя, Nj – комплексный показатель преломления j- го подслоя

Скачать (15KB)
3. Рис. 2. Изменения толщины оксида D на железе при 300С и парциальном давлении кислорода в системе Р: 1 – 0.001 Торр, 2 – 0.01 Торр, 3 – 0.1 Торр

Скачать (14KB)
4. Рис. 3. Трансформация оксидного слоя при оксидировании железа: кинетика роста толщины оксида и толщин магнетита и гематита при окислении напыленного слоя железа при 300C и степени вакуумирования 0.1 Торр

Скачать (15KB)

© Российская академия наук, 2024

Согласие на обработку персональных данных с помощью сервиса «Яндекс.Метрика»

1. Я (далее – «Пользователь» или «Субъект персональных данных»), осуществляя использование сайта https://journals.rcsi.science/ (далее – «Сайт»), подтверждая свою полную дееспособность даю согласие на обработку персональных данных с использованием средств автоматизации Оператору - федеральному государственному бюджетному учреждению «Российский центр научной информации» (РЦНИ), далее – «Оператор», расположенному по адресу: 119991, г. Москва, Ленинский просп., д.32А, со следующими условиями.

2. Категории обрабатываемых данных: файлы «cookies» (куки-файлы). Файлы «cookie» – это небольшой текстовый файл, который веб-сервер может хранить в браузере Пользователя. Данные файлы веб-сервер загружает на устройство Пользователя при посещении им Сайта. При каждом следующем посещении Пользователем Сайта «cookie» файлы отправляются на Сайт Оператора. Данные файлы позволяют Сайту распознавать устройство Пользователя. Содержимое такого файла может как относиться, так и не относиться к персональным данным, в зависимости от того, содержит ли такой файл персональные данные или содержит обезличенные технические данные.

3. Цель обработки персональных данных: анализ пользовательской активности с помощью сервиса «Яндекс.Метрика».

4. Категории субъектов персональных данных: все Пользователи Сайта, которые дали согласие на обработку файлов «cookie».

5. Способы обработки: сбор, запись, систематизация, накопление, хранение, уточнение (обновление, изменение), извлечение, использование, передача (доступ, предоставление), блокирование, удаление, уничтожение персональных данных.

6. Срок обработки и хранения: до получения от Субъекта персональных данных требования о прекращении обработки/отзыва согласия.

7. Способ отзыва: заявление об отзыве в письменном виде путём его направления на адрес электронной почты Оператора: info@rcsi.science или путем письменного обращения по юридическому адресу: 119991, г. Москва, Ленинский просп., д.32А

8. Субъект персональных данных вправе запретить своему оборудованию прием этих данных или ограничить прием этих данных. При отказе от получения таких данных или при ограничении приема данных некоторые функции Сайта могут работать некорректно. Субъект персональных данных обязуется сам настроить свое оборудование таким способом, чтобы оно обеспечивало адекватный его желаниям режим работы и уровень защиты данных файлов «cookie», Оператор не предоставляет технологических и правовых консультаций на темы подобного характера.

9. Порядок уничтожения персональных данных при достижении цели их обработки или при наступлении иных законных оснований определяется Оператором в соответствии с законодательством Российской Федерации.

10. Я согласен/согласна квалифицировать в качестве своей простой электронной подписи под настоящим Согласием и под Политикой обработки персональных данных выполнение мною следующего действия на сайте: https://journals.rcsi.science/ нажатие мною на интерфейсе с текстом: «Сайт использует сервис «Яндекс.Метрика» (который использует файлы «cookie») на элемент с текстом «Принять и продолжить».