A Method for Measuring the Directional Pattern of Scattered Radiation from Laser Plasma Using Exposed Photographic Paper

L. M. Lavrov; Лавров Л. М.; E. V Pozdnyakov; Поздняков Е. В.; E. A. Ul’mov; Ульмов Е. А.; V. M. Yamshchikov; Ямщиков В. М.; M. A. Yamshchikova; Ямщикова М. А.

doi:10.31857/S0032816223050324

Метод измерения диаграммы направленности рассеянного излучения из лазерной плазмы с использованием засвеченной фотобумаги

Авторы: Лавров Л.М.¹, Поздняков Е.В.¹, Ульмов Е.А.¹, Ямщиков В.М.¹, Ямщикова М.А.¹
Учреждения:
1. Институт лазерно-физических исследований РФЯЦ–ВНИИ экспериментальной физики
Выпуск: № 6 (2023)
Страницы: 35-45
Раздел: ОБЩАЯ ЭКСПЕРИМЕНТАЛЬНАЯ ТЕХНИКА
URL: https://ogarev-online.ru/0032-8162/article/view/233259
DOI: https://doi.org/10.31857/S0032816223050324
EDN: https://elibrary.ru/NGYNBP
ID: 233259

Цитировать

Полный текст

Аннотация
Об авторах
Список литературы
Дополнительные файлы
Статистика

Аннотация

Предложен метод регистрации пространственного распределения рассеянного из лазерной плазмы излучения в широком угловом диапазоне, вплоть до 4π, с использованием предварительно засвеченной и проявленной фотобумаги. Метод позволяет получить диаграмму направленности рассеянного излучения с достаточно высоким пространственным и угловым разрешением. Выполнив калибровку чувствительности фотобумаги, можно измерить величину энергии рассеянного излучения, ее пространственное распределение и определить интегральную величину потерь энергии на рассеяние в широком спектральном диапазоне от УФ- до ИК-области.

Список литературы

Косарев Н.И. // УФН. 2006. Т. 176. № 12. С. 1267. https://doi.org/10.3367/UFNr.0176.200612b.1267
Ананьин О.Б., Афанасьев Ю.В., Быковский Ю.А., Крохин О.Н. Лазерная плазма. Физика и применения. М.: МИФИ, 2003.
Басов Н.Г., Захаренков Ю.А., Рупасов А.А., Склизков Г.В., Шиканов А.С. Диагностика плотной плазмы. М.: Наука, 1989.
Протасов Ю.Ю., Щепанюк Т.С., Христофоров В.В. // Вестник МГТУ. Серия “Машиностроениеˮ. 2002. № 4. С. 99.
Журба Ю.И. Краткий справочник по фотографическим процессам и материалам М.: Искусство, 1988. С. 53.
Даниелян Г.Л., Осипов М.В., Пузырев В.Н., Саакян А.Т., Стародуб А.Н., Федотов С.И., Фроня А.А. Препринт № 25. М.: ФИАН, 2007.
Андреев А.А., Мак А.А., Серебряков В.А., Соловьев Н.А. // Квантовая электроника. 1983. Т. 10. № 7. С. 1324.
Бессараб А.В., Долголева Г.В., Зарецкий А.И., Кириллов Г.А., Кочемасов Г.Г., Муругов В.М., Насыров Г.Ф., Рогачев В.Г., Романов Ю.А., Сеник А.В., Сухарев С.А. // Докл. АН СССР. 1985. Т. 282. № 4. С. 857.
Bessarab A.V., Gaidash V.A., Dolgoleva G.V., Zhidkov N.V., Izgorodin V.M., Kirillov G.A., Kochemasov G.G., Kunin A.V., Litvin D.N., Murugov V.M., Nasyrov G.F., Punin V.T., Rogachev V.G., Senik A.V., Suslov N.A. etc. // JETP. 1992. T. 102. P. 970.
Гаранин С.Г., Душина Л.А., Елин И.П., Жидков Н.В., Изгородин В.М., Калмыков Н.А., Коваленко В.П., Кравченко А.Г., Литвин Д.Н., Петров С.И., Поздняков Е.В., Рогачев В.Г., Стародубцев К.В., Суслов Н.А., Тачаев Г.В. и др. // ЖЭТФ. 2019. Т. 155. Вып. 4. С. 759. https://doi.org/10.1134/S0044451019040199
Sigel R. // Journal de physique. 1977. V. 38 P. C6. https://doi.org/10/1051/jphyscol:1977605
Лавров Л.М., Андреев А.А., Бессараб А.В., Марцовенко Д.И., Стариков Ф.А. // Оптика и спектроскопия. 2011. Т. III. № 2. С. 216.