Atomistic simulation of paratellurite α-TeO2 crystal: II. Anisotropy and microscopic aspects of ion transport
- Authors: Ivanov-Schitz А.K.1
-
Affiliations:
- Shubnikov Institute of Crystallography of Kurchatov Complex of Crystallography and Photonics of NRC “Kurchatov Institute”
- Issue: Vol 70, No 1 (2025)
- Pages: 62-67
- Section: ФИЗИЧЕСКИЕ СВОЙСТВА КРИСТАЛЛОВ
- URL: https://ogarev-online.ru/0023-4761/article/view/286249
- DOI: https://doi.org/10.7868/S3034551025010089
- EDN: https://elibrary.ru/ISZEGU
- ID: 286249
Cite item
Abstract
The molecular dynamics method was used to study the peculiarities of ion transport in α-TeO2 paratellurite crystals. It has been shown that in α-TeO2, ion transport caused by oxygen transfer is anisotropic. The highest values of diffusion coefficients are observed along the c-axis and amount to DO~ 1×10–7 cm2/s at temperatures near the melting point. It has been shown that oxygen ions jump over distances of 1.5–2.5 Å via a vacancy or interstitial mechanism.
Full Text
Введение
Парателлурит (тетрагональная α-фаза TeO2) [1–3] имеет широкий спектр физических характеристик и находит применение в разнообразных оптических устройствах [4, 5], электронных приборах сверхвысокой интеграции [6], датчиках газа [7] и в качестве рентгенооптического адаптивного элемента [8, 9]. Работа рентгенооптического адаптивного элемента базируется на эффекте изменения дифракционных пиков при наложении на кристалл электрического поля, что связано, по-видимому, с миграцией ионных носителей в приповерхностных слоях парателлурита, однако детальный анализ процессов ионного транспорта до настоящего времени не проводился.
В данной работе с помощью компьютерного моделирования методом молекулярной динамики (МД) рассмотрены особенности транспорта ионных носителей в кристаллах дефектного α-TeO2, содержащего либо вакансии ионов кислорода и теллура, либо междоузельные ионы кислорода. Основное внимание уделялось микроскопическому анализу ионной миграции и изучению анизотропии ионного переноса в различных кристаллографических направлениях.
Методы и подходы
Для МД-моделирования была образована расчетная ячейка (бокс), содержащая 980 атомов Te и 1960 атомов О, однако с учетом наличия ядер и электронных оболочек общее число моделируемых частиц удваивается и составляет 5880 “частиц”. В системе создавались точечные дефекты (вакансии кислорода и междоузельные ионы кислорода), как подробно описано в [10]. В той же работе приведено детальное описание характеристик МД-моделирования.
Результаты и их обсуждение
Анизотропия ионного переноса. В работе исследовался только кислород-ионный перенос, поскольку, как было показано ранее [10], образование катионных дефектов энергетически невыгодно. Кроме того, ни в одной из изученных дефектных систем диффузии теллура не наблюдалось: это означает, что DТе << 10–10 cм2/с [10]. Отсутствие диффузии теллура согласуется с экспериментальными данными по ЯМР (Те) [11, 12], из которых следует, что DTe(950 К) < 10–15 см2/с.
На рис. 1 приведены температурные зависимости коэффициентов диффузии кислорода, измеренных вдоль кристаллографических осей дефектных кристаллов разного типа – с вакансиями и междоузельными кислородными атомами. Для обоих типов дефектов наибольшая подвижность кислорода наблюдается при измерениях вдоль оси с, причем диффузия вдоль осей a, b меньше примерно в 1.5 раза.
Рис. 1. Температурные зависимости коэффициентов диффузии кислорода DO в кристаллах, содержащих 15 кислородных вакансий (а) и 10 междоузельных ионов кислорода (б): общий коэффициент диффузии (1), DO вдоль осей a (2), b (3) и c (4) соответственно. Цифры у прямых – энергии активации диффузии.
Энергии активации процесса диффузии (ED) достаточно сильно зависят от характера дефектности образцов – в кристаллах, содержащих междоузельные ионы кислорода, величина ED примерно вдвое меньше аналогичных величин для кристаллов с вакансионным разупорядочением.
Обращает на себя внимание слабо изменяющаяся величина энергии активации диффузии вдоль различных кристаллографических направлений – около 0.75 эВ для кристалла с вакансиями и 0.42 эВ для образцов с междоузельными дефектами. На рис. 2 показаны карты миграции, полученные с помощью программы PathFinder [13], для ионов кислорода бездефектного кристалла парателлурита. Отметим, что процедура поиска пути основана на анализе расстояний между ближайшими соседями и кристаллографической симметрии позиций атомов. Как видно из рис. 2а, вакансионный перенос кислорода вдоль оси с может осуществляться двумя способами, включая либо “каналы” одного типа (возможная траектория движения О2– показана серыми стрелками), либо “каналы” двух разных типов (возможная траектория движения О2– показана белыми стрелками). Для движения кислорода вдоль а- и b-осей задействованы “каналы” двух типов (рис. 2б). Отметим, что в этом случае траектория носит сложный характер и не “лежит” в плоскости (a–b), а включает в себя обязательные переходы в направлении оси с. Однако для более детального анализа возможных транспортных путей (и тем более величин энергии активации диффузии) необходимо проведение дополнительных исследований с учетом дефектной структуры кристаллов, особенно в случае введения дополнительных междоузельных ионов кислорода.
Рис. 2. Возможные пути транспорта анионов кислорода. Большие сферы – кислород в кристаллографических позициях, малые серые и черные сферы – возможные промежуточные позиции кислорода для “каналов” двух типов. Стрелками показаны возможные траектории перемещения кислорода в направлении оси с (а) и в направлениях осей а, b (б).
Как было указано в [10], в кристаллах α-TeO2 наряду с ионной проводимостью наблюдается электронно-дырочная проводимость, что подтверждается результатами прямых измерений электропроводности (s) монокристаллов парателлурита [15, 16], причем в низкотемпературной области (300 < T < 500 K) проводимость обусловлена миграцией “примесных” кислородных вакансий. Для проверки высказанных предположений были сделаны оценки значений ионной электропроводности в рамках простейшей перескоковой модели. Считая, что электропроводность обусловлена избыточной концентрацией либо вакансий (nV), либо междоузельных ионов (nint), имеем соответственно:
и . (1)
Здесь nV (nint), DV(Dint) – концентрации и коэффициенты диффузии вакансий и междоузельных ионов кислорода.
Экстраполируя данные, приведенные на рис. 1, на температуру 300 К, получим:
Рассчитанные по (1) значения проводимости составляют:
Экспериментальные значения электропроводности при комнатной температуре варьируются в пределах (4–20) × 10–14 См/см [9, 14, 15]. Таким образом, можно считать, что гипотеза о вакансионном механизме кислород-ионной проводимости получает дополнительное обоснование.
Микроскопика ионного переноса. Для визуального отображения особенностей анионного переноса были проанализированы траектории движения кислорода в образцах различной дефектности. Во всех дефектных кристаллах большая часть ионов кислорода совершает колебательные движения в окрестностях их кристаллографических позиций (рис. 3а, 4а), причем амплитуда тепловых колебаний, найденная из анализа гистограмм положений атомов (рис. 3б, 4б), составляет 0.7–0.8 Å, что неплохо согласуется с данными, полученным из анализа среднеквадратичных смещений: 0.65–0.75 Å.
Рис. 3. Рассчитанные траектории движения анионов кислорода в кристалле TeO2 с 15 кислородными вакансиями.
Рис. 4. Рассчитанные траектории движения анионов кислорода в кристалле TeO2 с 10 междоузельными атомами кислорода.
В системах с наличием дефектов был обнаружен ряд анионов кислорода, которые совершают перескоки в вакантные позиции, как это показано на рис. 3и, 3д–4в, 4д. “Скачки” бывают двух типов. Во-первых, перескок совершается примерно на 1.2–1.5 Å за несколько пикосекунд с возможностью возвращения в начальную позицию (рис. 3в–4в). Во-вторых, перескок может происходить быстро (за 0.5–1 пс) на вдвое большее расстояние, т.е. на 2.2–2.5 Å (рис. 3е, 3г–4е, 4г).
Ионы, принимающие участие в переносе заряда, расположены в объеме моделируемой системы, как правило, случайным образом. Однако иногда могут наблюдаться ситуации, когда “перескакивающие” анионы кислорода находятся близко друг от друга (рис. 5). Но и в этом случае последовательных перескоков не наблюдается, т.е. это не коррелированные перескоки.
Рис. 5. Три рядом расположенных не коррелированных перескоков анионов кислорода.
Используя простейшую модель диффузии, можно оценить величину коэффициента диффузии DO (при 1200–1400 К), взяв среднюю длину перескока (l = 1.5–2.5 Å) и считая, что за расчетное время (500–800 пс) ион кислорода совершил один перескок, т.е. частота перескоков составляла (n = 1.3–2) × × 109 Гц:
.
Рассчитанные величины коэффициента диффузии хорошо согласуются с величинами, полученными из анализа среднеквадратичных смещений: DO = (5–10) × 10–8 см2/с.
Заключение
МД-моделирование позволило определить, что в кристаллах парателлурита α-TeO2 в процессах ионного переноса задействованы как вакансии, так и междоузельные анионы кислорода. Перескоковый механизм описывается посредством “скачков” двух типов: перескок примерно на 1.2–1.5 Å за несколько пикосекунд с возможностью возвращения в начальную позицию, либо быстрые (0.5–1 пс) перескоки на вдвое большее расстояние. Наибольшая подвижность кислорода наблюдается при измерениях вдоль оси с, причем диффузия вдоль осей a, b уменьшается примерно в 1.5 раза.
Автор выражает благодарность Ю.В. Писаревскому за интерес и внимание к работе.
Работа выполнена по Государственному заданию НИЦ “Курчатовский институт”.
About the authors
А. K. Ivanov-Schitz
Shubnikov Institute of Crystallography of Kurchatov Complex of Crystallography and Photonics of NRC “Kurchatov Institute”
Author for correspondence.
Email: alexey.k.ivanov@gmail.com
Russian Federation, Moscow
References
- Кондратюк И.П., Мурадян Л.А., Писаревский Ю.В. и др. // Кристаллография. 1987. Т. 32. С. 609.
- Thomas P.A. // J. Phys. C. 1988. V. 21. P. 4611. http://stacks.iop.org/0022–3719/21/i=25/a=009
- Дудка А.П., Головина Т.Г., Константинова А.Ф. // Кристаллография. 2019. Т. 64. С. 930. https://doi.org/10.1134/S0023476119060043
- Arlt G., Schweppe H. // Solid State Commun. 1968. V. 6. P. 783. https://doi.org/10.1016/0038–1098(68)90119–1
- Wang P., Zhang Z. // Appl. Opt. 2017. V. 56. P. 1647. https://doi.org/10.1364/AO.56.001647
- Li Y., Fan W., Sun H. et al. // J. Appl. Phys. 2010. V. 107. P. 093506. https://doi.org/10.1063/1.3406135
- Liu Z., Yamazaki T., Shen Y. et al. // Appl. Phys. Lett. 2007. V. 90. P. 173119. https://doi.org/10.1063/1.2732818
- Ковальчук М.В., Благов А.Е., Куликов А.Г. и др. // Кристаллография. 2014. Т. 59. С. 950.
- Куликов А.Г. Образование приповерхностных структур в кристаллах парателлурита и тетрабората лития при миграции носителей заряда во внешнем электрическом поле. Дис. … канд. физ.-мат. наук. Москва, 2019.
- Иванов-Шиц А.К. //Кристаллография. 2024. Т. 69. № 6. С. 1009. https://doi.org/10.31857/S0023476124060116
- Wegener J., Kanert O., Küchler R. et al. // Z. Naturforsch. А. 1994. V. 49. P. 1151. https://doi.org/10.1515/zna-1994-1208
- Wegener J., Kanert O., Küchler R. et al. // Radiat. Eff. Defects Solids. 1995. V. 114. P. 277.
- BatteryMaterials. https://pathfinder.batterymaterials.info/
- Jain H., Nowick A.S. // Phys. Status Solidi. А. 1981. V. 67. P. 701. https://doi.org/10.1002/pssa.2210670242
- Hartmann E., Kovács L. // Phys. Status Solidi. А. 1982. V. 74. P. 59. https://doi.org/10.1002/pssa.2210740105
Supplementary files
Note
In the print version, the article was published under the DOI: 10.31857/S0023476125010089







