A Technique for Measuring the Resistance of an Electrical Breakdown Channel in Thin Dielectric Films


Дәйексөз келтіру

Толық мәтін

Ашық рұқсат Ашық рұқсат
Рұқсат жабық Рұқсат берілді
Рұқсат жабық Тек жазылушылар үшін

Аннотация

A technique for measuring the rate of change in the breakdown-channel resistance and estimating the true amplitude and duration of the breakdown current was developed. This technique is based on the dependence of the amplitude and frequency of oscillations of the measured current on the channel resistance. The resistance of the breakdown channel and the breakdown current in a polymer dielectric film were determined.

Авторлар туралы

V. Pakhotin

Ioffe Institute, Russian Academy of Sciences

Хат алмасуға жауапты Автор.
Email: v.pakhotin@mail.ioffe.ru
Ресей, St. Petersburg, 194021

N. Sudar

Peter the Great St. Petersburg Polytechnic University

Хат алмасуға жауапты Автор.
Email: sudar53@mail.ru
Ресей, St. Petersburg, 195251

Қосымша файлдар

Қосымша файлдар
Әрекет
1. JATS XML

© Pleiades Publishing, Inc., 2019