A study of the effect of random dopant-concentration fluctuations on current in semiconductor superlattices


Цитировать

Полный текст

Открытый доступ Открытый доступ
Доступ закрыт Доступ предоставлен
Доступ закрыт Только для подписчиков

Аннотация

The influence exerted by random dopant-concentration fluctuations on the current–voltage characteristics of the current flowing through a semiconductor superlattice has been studied. It was shown that the characteristics of the current flowing through the superlattice noticeably vary with the amplitude of fluctuations of nanostructure parameters. It was possible to find for a small sample the probability-density distribution of the integrated absolute values of the difference of currents at various amplitudes of the dopantconcentration fluctuations.

Об авторах

A. Sel’skii

Saratov State University; Yuri Gagarin State Technical University of Saratov

Автор, ответственный за переписку.
Email: feanorberserk@gmail.com
Россия, Saratov, 410012; Saratov, 410054

A. Koronovskii

Saratov State University

Email: feanorberserk@gmail.com
Россия, Saratov, 410012

O. Moskalenko

Saratov State University

Email: feanorberserk@gmail.com
Россия, Saratov, 410012

A. Hramov

Yuri Gagarin State Technical University of Saratov

Email: feanorberserk@gmail.com
Россия, Saratov, 410054

Дополнительные файлы

Доп. файлы
Действие
1. JATS XML

© Pleiades Publishing, Ltd., 2017

Согласие на обработку персональных данных

 

Используя сайт https://journals.rcsi.science, я (далее – «Пользователь» или «Субъект персональных данных») даю согласие на обработку персональных данных на этом сайте (текст Согласия) и на обработку персональных данных с помощью сервиса «Яндекс.Метрика» (текст Согласия).