Ion plasma deposition of oxide films with graded-stoichiometry composition: Experiment and simulation


Цитировать

Полный текст

Открытый доступ Открытый доступ
Доступ закрыт Доступ предоставлен
Доступ закрыт Только для подписчиков

Аннотация

A method of ion plasma deposition is proposed for obtaining thin multicomponent films with continuously graded composition in depth of the film. The desired composition–depth profile is obtained by varying the working gas pressure during deposition in the presence of an additional adsorbing screen in the drift space between a sputtered target and substrate. Efficiency of the proposed method is confirmed by Monte Carlo simulation of the deposition of thin films of BaxSr1–xTiO3 (BSTO) solid solution. It is demonstrated that, during sputtering of a Ba0.3Sr0.7TiO3 target, the parameter of composition stoichiometry in the growing BSTO film varies in the interval of x = 0.3–0.65 when the gas pressure is changed within 2–60 Pa.

Об авторах

V. Volpyas

St. Petersburg State Electrotechnical University (LETI)

Email: r.a.platonov@gmail.com
Россия, St. Petersburg, 197376

A. Tumarkin

St. Petersburg State Electrotechnical University (LETI)

Email: r.a.platonov@gmail.com
Россия, St. Petersburg, 197376

A. Mikhailov

St. Petersburg State Electrotechnical University (LETI); St. Petersburg National Research University of Information Technologies, Mechanics and Optics (ITMO University)

Email: r.a.platonov@gmail.com
Россия, St. Petersburg, 197376; St. Petersburg, 197101

A. Kozyrev

St. Petersburg State Electrotechnical University (LETI)

Email: r.a.platonov@gmail.com
Россия, St. Petersburg, 197376

R. Platonov

St. Petersburg State Electrotechnical University (LETI); Dagestan State University

Автор, ответственный за переписку.
Email: r.a.platonov@gmail.com
Россия, St. Petersburg, 197376; Makhachkala, Dagestan, 367000

Дополнительные файлы

Доп. файлы
Действие
1. JATS XML

© Pleiades Publishing, Ltd., 2016

Согласие на обработку персональных данных

 

Используя сайт https://journals.rcsi.science, я (далее – «Пользователь» или «Субъект персональных данных») даю согласие на обработку персональных данных на этом сайте (текст Согласия) и на обработку персональных данных с помощью сервиса «Яндекс.Метрика» (текст Согласия).