Отправить статью по E-mail 
Метод опорного слоя Gd для случая двух рефлектометрических экспериментов
- Авторы: Никова Е.С.1, Саламатов Ю.А.1, Кравцов Е.А.1
-
Учреждения:
- Институт физики металлов им. М.Н. Михеева УрО РАН
- Выпуск: № 12 (2024)
- Страницы: 94-101
- Раздел: Статьи
- URL: https://ogarev-online.ru/1028-0960/article/view/286117
- DOI: https://doi.org/10.31857/S1028096024120118
- EDN: https://elibrary.ru/QWMAOS
- ID: 286117
Цитировать
Открытый доступ
Доступ предоставлен
Аннотация
В статье представлен подход к определению модуля и фазы коэффициента отражения нейтронов с использованием опорного слоя гадолиния, позволяющий сократить количество необходимых экспериментов с трех до двух. Показано, что возможно восстановить амплитуду отражения по результатам только двух рефлектометрических экспериментов. Однако, при проведении двух экспериментов расчет амплитуды отражения осложняется тем, что вместо одного будет два решения. Поэтому необходимо провести оценку полученных результатов, так как одно из этих решений не будет иметь физического смысла. Оценку результатов проводят на основании априорной информации об образце или с помощью дополнительного моделирования потенциала взаимодействия. Подробно описана теория предлагаемого подхода, проведена его апробация на модельных численных расчетах для пленки Al2O3//Ti. Представлены экспериментальные результаты для тестовых образцов Al2O3//Nb и Si//Cr/Fe/Cr. Проведено сравнение амплитуд отражения, полученных при обработке трех и двух экспериментов. Обнаружено, что в условиях недостаточной статистики проведение двух экспериментов предпочтительнее, так как решение, в данном случае, содержит меньше артефактов математической обработки.
Полный текст
Об авторах
Е. С. Никова
Институт физики металлов им. М.Н. Михеева УрО РАН
Автор, ответственный за переписку.
Email: e.nikova@mail.ru
Россия, Екатеринбург
Ю. А. Саламатов
Институт физики металлов им. М.Н. Михеева УрО РАН
Email: e.nikova@mail.ru
Россия, Екатеринбург
Е. А. Кравцов
Институт физики металлов им. М.Н. Михеева УрО РАН
Email: e.nikova@mail.ru
Россия, Екатеринбург
Список литературы
- de Haan V.O., van Well A.A., Sacks P.E., Adenwalla S., Felcher G.P. // Phys. Rev. B. 1996. V. 221. P. 524.
- Majkrzak C.F., Berk N.F. // Phys. Rev. B.1995. V. 52. P. 10827.
- Никова Е.С, Саламатов Ю.А., Кравцов Е.А., Макарова М.В., Проглядо В.В., Устинов В.В., Боднарчук В.И., Нагорный А.В. // Физика металлов и металловедение. 2019. V. 120. P. 913.
- Никова Е.С., Саламатов Ю.А., Кравцов Е.А., Проглядо В.В., Жакетов В.Д., Миляев М.А. // Поверхность. Рентген., синхротр. и нейтрон. исслед. 2022. № 11. P. 15. https://doi.org/10.31857/S1028096022110176
- de Haan V.O., van Well A.A., Adenwalla S., Felcher G.P. // Phys. Rev. B. 1995. V. 52. № 15. P. 10831
- Majkrzak C.F., Berk N.F. // Phys. Rev. B. 1998. V. 58. P. 15416.
- Majkrzak C.F., Berk N.F., Silin V. // Phys. Rev. B. 2000. V. 283. P. 248.
- Leeb H., Grötz H., Kasper J., Lipperheide R.// Phys. Rev. B. 2001. V. 63. P. 045414
- Lynn J.E., Seeger P.A. // Atomic Data and Nuclear Data Tables. 1990. V. 44, Iss. 2. P. 191
- Никова Е.С., Саламатов Ю.А., Кравцов Е.А. // Поверхность. Рентген., синхротр. и нейтрон. исслед. 2023. № 7. P. 102. EDN: TEZEMM https://doi.org/10.31857/S1028096023070117
- Agranovich Z. S., Marchenkow V. S. The inverse Problem of Scattering Theory. Gordon and Breach. New York. 1963. 290 p.
- Chadan K., Sabatier P. C. Inverse Problems in Quantum Scattering Theory. Text and Monographs in Physics. Springer. Berlin. 2nd ed., 1989. 250 p.
- Kay I. // Comm. Pure and Appl. Math.1960.V. 13. P. 371.
- Levenberg K. A // Quart. Appl. Math. 1944. V. 2. P. 164.
- Marquardt D.// SIAM Journal on Applied Mathematics.1963. V. 11 (2). P.431.
- Majkrzak C.F., Berk N.F., Perez-Salas U.A. // Langmuir. 2003. V. 19, P. 7796.
- Paul E. Sacks and Tuncay Aktosun // SIAM J. Appl. Math. 2000. V. 60, № 4, P.1340.
- Nikova E.S., Salamatov Yu.A, Kravtsov E.A., Bodnarchuk V.I., Ustinov V.V. // Physica B. 2019. V. 552. P. 58.
- Nikova E.S., Salamatov Yu. A. , Kravtsov E. A. , Ustinov V. V. , Bodnarchuk V. I. , Nagorny A. V. // J. Surf. Invest.: X-Ray, Synchrotron Neutron Tech. 2020. V. 14. P. 164.
Дополнительные файлы
