Model of Structural Ordering of Vacancies and Formation of a Family of Ternary Compounds in I–III–VI Systems

Capa

Citar

Texto integral

Resumo

A characteristic feature of AIBIIICVI ternary chalcogenide compounds, which has a significant effect on the possibility of controlling the functional properties of materials based on them, is a strong tendency to stoichiometry deviation. The existence of ordered vacancy compounds in nanocrystals of the AIBIIICVI system was substantiated using the triangulation method (N.A. Goryunova’s method for predicting the composition of diamond-like semiconductors). Taking into account the assumption of the formation of electrically neutral defect complexes consisting of a vacancy in the position of the group I atom \(2[0]_{{\text{I}}}^{{ - 1}}\) and a doubly ionized antistructural defect \({\text{In}}_{{\text{I}}}^{{ + 2}}\) vacancies are presented as a pseudo-element of the “zero group”, while the system is considered from the point of view of the concentration tetrahedron so that the triangulation operations are transformed into tetrahedration operations. In the presence of such a “virtual” element, instead of a single stoichiometric composition in the AIBIIICVI system, a set of ternary compounds with an ordered content of vacancies known from the literature is determined, corresponding to semiconductors with four bonds per individual atom.

Sobre autores

D. Mazing

St. Petersburg Electrotechnical University

Autor responsável pela correspondência
Email: dmazing@yandex.ru
Russia, 197022, St. Petersburg

О. Aleksandrova

St. Petersburg Electrotechnical University

Autor responsável pela correspondência
Email: oaaleksandrova@gmail.com
Russia, 197022, St. Petersburg

V. Moshnikov

St. Petersburg Electrotechnical University

Autor responsável pela correspondência
Email: vamoshnikov@mail.ru
Russia, 197022, St. Petersburg

Bibliografia

  1. Kagan C.R., Lifshitz E., Sargent E.H., Talapin D.V. // Science. 2016. V. 353. № 6302. P. 885. https://www.doi.org/10.1126/science.aac5523
  2. Choi M.K., Yang J., Hyeon T., Kim D.H. // npj Flexible Electronics. 2018. V. 2. P. 10. https://www.doi.org/10.1038/s41528-018-0023-3
  3. García de Arquer F.P., Armin A., Meredith P., Sargent E.H. // Nat. Rev. Mater. 2017. V. 2. P. 16100. https://www.doi.org/10.1038/natrevmats.2016.100
  4. Pelaz B., Alexiou C., Alvarez-Puebla R.A., Alves F., Andrews A.M., Ashraf S., Balogh L.P., Ballerini L., Bestetti A., Brendel C. et al. // ACS Nano. 2017. V. 11. P. 2313. https://www.doi.org/10.1021/acsnano.6b06040
  5. Sharan A., Sabino F.P., Janotti A., Gaillard N., Ogitsu T., Varley J.B. // J. Appl. Phys. 2020. V. 127. № 6. P. 065303. https://www.doi.org/10.1063/1.5140736
  6. Du J., Singh R., Fedin I., Fuhr A.S., Klimov V.I. // Nature Energy. 2020. V. 5. P. 409. https://www.doi.org/10.1038/s41560-020-0617-6
  7. Regmi G., Ashok A., Chawla P., Semalti P., Velumani S., Sharma S.N., Castaneda H. // J. Mater. Sci.: Mater. Electronics. 2020. V. 31. № 10. P. 7286. https://www.doi.org/10.1007/s10854-020-03338-2
  8. Aldakov D., Lefrançois A., Reiss P. // J. Mater. Chem. C. 2013. V. 1. № 24. P. 3756. https://www.doi.org/10.1039/C3TC30273C
  9. Mazing D.S., Karmanov A.A., Matyushkin L.B., Aleksandrova O.A., Pronin I.A., Moshnikov V.A. // Glass Phys. Chem. 2016. V. 42. P. 497. https://www.doi.org/10.1134/S1087659616050114
  10. Mazing D.S., Korepanov O.A., Aleksandrova O.A., Moshnikov V.A. // Opt. Spectrosc. 2018. V. 125. P. 773. https://www.doi.org/10.1134/S0030400X1811019X
  11. Korepanov O.A., Mazing D.S., Aleksandrova O.A., Moshnikov V.A., Komolov A.S., Lazneva E.F., Kirilenko D.A. // Phys. Solid State. 2019. V. 61. P. 2325. https://www.doi.org/10.1134/S1063783419120217
  12. Ghosh S., Mandal S., Mukherjee S., De C.K., Samanta T., Mandal M., Roy D., Mandal P.K. // J. Phys. Chem. Lett. 2021. V. 12. № 5. P. 1426. https://www.doi.org/10.1021/acs.jpclett.0c03519
  13. Yarema O., Yarema M., Wood V. // Chem. Mater. 2018. V. 30. № 5. P. 1446. https://www.doi.org/10.1021/acs.chemmater.7b04710
  14. Berends A.C., Mangnus M.J., Xia C., Rabouw F.T., de Mello Donega C. // J. Phys. Chem. Lett. 2019. V. 10. № 7. P. 16006. https://www.doi.org/10.1021/acs.jpclett.8b03653
  15. Leach A.D., Macdonald J.E. // J. Phys. Chem. Lett. 2016. V. 7. № 3. P. 572. https://www.doi.org/10.1021/acs.jpclett.5b02211
  16. Горюнова Н.А. Сложные алмазоподобные полупроводники. М.: Сов. радио, 1968.
  17. Coughlan C., Ibáñez M., Dobrozhan O., Singh A., Cabot A., Ryan K.M. // Chem. Rev. 2017. V. 117. № 9. P. 5865. https://www.doi.org/10.1021/acs.chemrev.6b00376
  18. Jeong S., Yoon H.C., Han N.S., Oh J.H., Park S.M., Min B., Do Y.R., Song J.K. // J. Phys. Chem. C. 2017. V. 121. № 5. P. 3149. https://www.doi.org/10.1021/acs.jpcc.7b00043
  19. Merino J.M., Mahanty S., Leon M., Diaz R., Rueda F., De Vidales J.M. // Thin Solid Films. 2000. V. 361. P. 70. https://www.doi.org/10.1016/S0040-6090(99)00771-3
  20. Yarema O., Yarema M., Bozyigit D., Lin W.M., Wood V. // ACS Nano. 2015. V. 9. № 11. P. 11134. https://www.doi.org/10.1021/acsnano.5b04636
  21. Zhang S.B., Wei S.H., Zunger A. // Phys. Rev. Lett. 1997. V. 78. P. 4059. https://www.doi.org/10.1103/PhysRevLett.78.4059
  22. Zhang S.B., Wei Su-Huai, Zunger A., Katayama-Yoshida H. // Phys. Rev. B. 1998. V. 57. P. 9642. https://www.doi.org/10.1103/PhysRevB.57.9642
  23. Matyushkin L.B., Moshnikov V.A. // Semiconductors. 2017. V. 51. P. 1337. https://www.doi.org/10.1134/S106378261710013X
  24. Aleshin A.N., Shcherbakov I.P., Kirilenko D.A., Matyushkin L.B., Moshnikov V.A. // Phys. Solid State. 2019. V. 61. P. 256. https://www.doi.org/10.1134/S1063783419020021
  25. Omata T., Nose K., Otsuka-Yao-Matsuo S. // J. Appl. Phys. 2009. V. 105. № 7. P. 073106. https://www.doi.org/10.1063/1.3103768

Arquivos suplementares

Arquivos suplementares
Ação
1. JATS XML
2.

Baixar (330KB)
3.

Baixar (157KB)

Declaração de direitos autorais © Д.С. Мазинг, О.А. Александрова, В.А. Мошников, 2023

Согласие на обработку персональных данных с помощью сервиса «Яндекс.Метрика»

1. Я (далее – «Пользователь» или «Субъект персональных данных»), осуществляя использование сайта https://journals.rcsi.science/ (далее – «Сайт»), подтверждая свою полную дееспособность даю согласие на обработку персональных данных с использованием средств автоматизации Оператору - федеральному государственному бюджетному учреждению «Российский центр научной информации» (РЦНИ), далее – «Оператор», расположенному по адресу: 119991, г. Москва, Ленинский просп., д.32А, со следующими условиями.

2. Категории обрабатываемых данных: файлы «cookies» (куки-файлы). Файлы «cookie» – это небольшой текстовый файл, который веб-сервер может хранить в браузере Пользователя. Данные файлы веб-сервер загружает на устройство Пользователя при посещении им Сайта. При каждом следующем посещении Пользователем Сайта «cookie» файлы отправляются на Сайт Оператора. Данные файлы позволяют Сайту распознавать устройство Пользователя. Содержимое такого файла может как относиться, так и не относиться к персональным данным, в зависимости от того, содержит ли такой файл персональные данные или содержит обезличенные технические данные.

3. Цель обработки персональных данных: анализ пользовательской активности с помощью сервиса «Яндекс.Метрика».

4. Категории субъектов персональных данных: все Пользователи Сайта, которые дали согласие на обработку файлов «cookie».

5. Способы обработки: сбор, запись, систематизация, накопление, хранение, уточнение (обновление, изменение), извлечение, использование, передача (доступ, предоставление), блокирование, удаление, уничтожение персональных данных.

6. Срок обработки и хранения: до получения от Субъекта персональных данных требования о прекращении обработки/отзыва согласия.

7. Способ отзыва: заявление об отзыве в письменном виде путём его направления на адрес электронной почты Оператора: info@rcsi.science или путем письменного обращения по юридическому адресу: 119991, г. Москва, Ленинский просп., д.32А

8. Субъект персональных данных вправе запретить своему оборудованию прием этих данных или ограничить прием этих данных. При отказе от получения таких данных или при ограничении приема данных некоторые функции Сайта могут работать некорректно. Субъект персональных данных обязуется сам настроить свое оборудование таким способом, чтобы оно обеспечивало адекватный его желаниям режим работы и уровень защиты данных файлов «cookie», Оператор не предоставляет технологических и правовых консультаций на темы подобного характера.

9. Порядок уничтожения персональных данных при достижении цели их обработки или при наступлении иных законных оснований определяется Оператором в соответствии с законодательством Российской Федерации.

10. Я согласен/согласна квалифицировать в качестве своей простой электронной подписи под настоящим Согласием и под Политикой обработки персональных данных выполнение мною следующего действия на сайте: https://journals.rcsi.science/ нажатие мною на интерфейсе с текстом: «Сайт использует сервис «Яндекс.Метрика» (который использует файлы «cookie») на элемент с текстом «Принять и продолжить».