FEATURES OF ANISOTROPY IN NARROW STRIPS OF THIN MAGNETIC FILMS DEPOSITED IN A CONSTANT MAGNETIC FIELD

Мұқаба

Дәйексөз келтіру

Толық мәтін

Аннотация

Strips with a length of 20 mm and width from 0.1 to 2 mm were fabricated by laser lithography from permalloy (Fe20Ni80) films with thicknesses of 50, 100, and 200 nm, obtained by magnetron sputtering on quartz substrates. In the first series of samples, the uniaxial magnetic anisotropy induced by the presence of a constant magnetic field in the film plane during deposition was oriented along the long axes of the strips, and in the second series perpendicular to them. The anisotropic properties of the samples were determined from the angular dependencies of ferromagnetic resonance fields measured on a scanning spectrometer. It was found that in the first series of samples, with decreasing strip width, the anisotropy monotonically increases several times while barely changing its direction. In the samples of the second series, it first decreases almost to zero at a certain strip width, and then rapidly grows while simultaneously rotating by ~ 90◦. The phenomenological calculation of uniaxial anisotropy in uniformly magnetized film strips shows good agreement with the experiment.

Авторлар туралы

B. Belyaev

Kirensky Institute of Physics Siberian Branch of the Russian Academy of Sciences; Reshetnev Siberian State University of Science and Technology

Email: belyaev@iph.krasn.ru
Ресей, 660036, Krasnoyarsk; 660014, Krasnoyarsk

N. Boev

Kirensky Institute of Physics Siberian Branch of the Russian Academy of Sciences; Siberian Federal University

Email: belyaev@iph.krasn.ru
Ресей, 660036, Krasnoyarsk; 660041, Krasnoyarsk

G. Skomorokhov

Kirensky Institute of Physics Siberian Branch of the Russian Academy of Sciences

Email: belyaev@iph.krasn.ru
Ресей, 660036, Krasnoyarsk

P. Solov'ev

Kirensky Institute of Physics Siberian Branch of the Russian Academy of Sciences

Email: belyaev@iph.krasn.ru
Ресей, 660036, Krasnoyarsk

A. Luk'yanenko

Kirensky Institute of Physics Siberian Branch of the Russian Academy of Sciences; Siberian Federal University

Email: belyaev@iph.krasn.ru
Ресей, 660036, Krasnoyarsk; 660041, Krasnoyarsk

A. Gorchakovskiy

Kirensky Institute of Physics Siberian Branch of the Russian Academy of Sciences

Email: belyaev@iph.krasn.ru
Ресей, 660036, Krasnoyarsk

I. Podshivalov

Kirensky Institute of Physics Siberian Branch of the Russian Academy of Sciences

Email: belyaev@iph.krasn.ru
Ресей, 660036, Krasnoyarsk

A. Izotov

Kirensky Institute of Physics Siberian Branch of the Russian Academy of Sciences; Siberian Federal University

Хат алмасуға жауапты Автор.
Email: belyaev@iph.krasn.ru
Ресей, 660036, Krasnoyarsk; 660041, Krasnoyarsk

Әдебиет тізімі

  1. Р. Суху, Магнитные тонкие пленки, Мир, Москва (1967).
  2. Н. М. Саланский, М. Ш. Ерухимов, Физические свойства и применение магнитных пленок, Наука, Новосибирск (1975).
  3. K. Barmak, K. Coffey, Metallic Films for Electronic, Optical and Magnetic Applications: Structure, Processing and Properties, Woodhead Publ, Oxford (2014).
  4. B. A. Belyaev, A. O. Afonin, A. V. Ugrymov et al., Rev. Sci. Instrum. 91, 114705 (2020).
  5. A. N. Lagarkov, K. N. Rozanov, J. Magn. Magn. Mater. 321, 2082 (2009).
  6. R. E. Camley, Z. Celinski, T. Fal et al., J. Magn. Magn. Mater. 321, 2048 (2009).
  7. А. Н. Бабицкий, Б. А. Беляев, Г. В. Скоморохов и др., Письма в ЖТФ 41, 36 (2015).
  8. А. Н. Бабицкий, Б. А. Беляев, Н. М. Боев и др., ПТЭ 3, 96 (2016).
  9. G. Yu. Melnikov, I. G. Vazhenina, R. S. Iskhakov et al., Sensors 23, 6165 (2023).
  10. А. Н. Лагарьков, С. А. Маклаков, А. В. Осипов и др., РЭ 5, 625 (2009).
  11. C. Kittel, Phys. Rev. 73, 155 (1948).
  12. J. Han-Min, C.-O. Kim, T.-D. Lee et al., Chinese Phys. 16, 3520 (2007).
  13. Б. А. Беляев, А. В. Изотов, С. Я. Кипарисов и др., ФТТ 50, 650, (2008).
  14. Y. Yang, B. Liu, D. Tang et al., J. Appl. Phys. 108, 073902 (2010).
  15. P. N. Solovev, A. V. Izotov, and B. A. Belyaev, J. Magn. Magn. Mater. 429, 45 (2017).
  16. Z. Ali, D. Basaula, K. F. Eid et al., Thin Solid Films 735, 138899 (2021).
  17. Б. А. Беляев, А. В. Изотов, ФТТ 49, 1651 (2007).
  18. Z. K. Wang, E. X. Feng, Q. F. Liu et al., Physica B: Cond. Matt. 407, 3872 (2012).
  19. C. Bayer, J. P. Park, H. Wang et al., Phys. Rev. B 69, 134401 (2004).
  20. С. Л. Высоцкий, С. А. Никитов, Ю. А. Филимонов и др., Письма в ЖЭТФ 88, 534 (2008).
  21. B. K. Kuanr, V. Veerakumar, L. M. Malkinski et al., IEEE Trans. Magn. 45, 3550 (2009).
  22. A. Garcia-Arribas, E. Fernandez, A. V. Svalov et al., Eur. Phys. J. B 86. 136 (2013).
  23. A. G. Kozlov, M. E. Stebliy, A. V. Ognev et al., IEEE Trans. Magn. 51, 2301604 (2015).
  24. E. V. Skorohodov, R. V. Gorev, R. R. Yakubov et al., J. Magn. Magn. Mater. 424, 118 (2017).
  25. A. G. Kozlov, M. E. Stebliy, A. V. Ognev et al., J. Magn. Magn. Mater. 422, 452 (2017).
  26. Z. Zhu, H. Feng, X. Cheng et al., J. Phys. D: Appl. Phys. 51, 045004 (2018).
  27. M. Haschke, J. Flock, and M. Haller, X-ray Fluorescence Spectroscopy for Laboratory Applications, Wiley-VCH, Weinheim (2021).
  28. Б. А. Беляев, А. В. Изотов, Письма в ЖЭТФ 103, 44 (2016).
  29. Б. А. Беляев, А. А. Лексиков, И. Я. Макиевский и др., ПТЭ 3, 106 (1997).
  30. B. A. Belyaev, A. V. Izotov, and A. A. Leksikov, IEEE Sensors J. 5, 260 (2005).
  31. Б. А. Беляев, Н. М. Боев, А. А. Горчаковский и др., ПТЭ 2, 107 (2021).
  32. А. В. Изотов, Б. А. Беляев, Свид. о гос. рег. прогр. для ЭВМ №2009616881 (2009).
  33. Л. Д. Ландау, Е. М. Лифшиц, Электродинамика сплошных сред, Наука, Москва (1982).

Қосымша файлдар

Қосымша файлдар
Әрекет
1. JATS XML

© Russian Academy of Sciences, 2024

Согласие на обработку персональных данных

 

Используя сайт https://journals.rcsi.science, я (далее – «Пользователь» или «Субъект персональных данных») даю согласие на обработку персональных данных на этом сайте (текст Согласия) и на обработку персональных данных с помощью сервиса «Яндекс.Метрика» (текст Согласия).