Optical properties of thin Cu2ZnSnS4, films produced by RF magnetron sputtering


Дәйексөз келтіру

Толық мәтін

Ашық рұқсат Ашық рұқсат
Рұқсат жабық Рұқсат берілді
Рұқсат жабық Тек жазылушылар үшін

Аннотация

Optical properties of thin Cu2ZnSnS4 films produced by RF magnetron sputtering of preliminarily synthesized material are studied. Transmission and reflection coefficients are studied in a range from 0.4 to 26 μm. The optical band-gap width depending on substrate temperature is estimated; in optimal modes, it is equal to 1.47 eV. The study of electrical properties shows that Cu2ZnSnS4 possesses low charge-carrier mobility, μ = 1.9 cm2/(V s), at room temperature and hole concentration р = 5 × 1018 cm–3. Electron microscopy shows that the film possesses a polycrystalline structure with a crystallite size on the order of 100 nm.

Авторлар туралы

E. Maistruk

Chernovtsi National University

Хат алмасуға жауапты Автор.
Email: e.maistruk@chnu.edu.ua
Украина, Chernovtsi, 58012

P. Mar’yanchuk

Chernovtsi National University

Email: e.maistruk@chnu.edu.ua
Украина, Chernovtsi, 58012

M. Solovan

Chernovtsi National University

Email: e.maistruk@chnu.edu.ua
Украина, Chernovtsi, 58012

F. Pinna

Politecnico di Torino

Email: e.maistruk@chnu.edu.ua
Италия, Torino, 10129

E. Tresso

Politecnico di Torino

Email: e.maistruk@chnu.edu.ua
Италия, Torino, 10129

Қосымша файлдар

Қосымша файлдар
Әрекет
1. JATS XML

© Pleiades Publishing, Ltd., 2017